奧托立夫榮獲2025年邁克爾親王國(guó)際道路安全獎(jiǎng)，這一全球殊榮，旨在表彰我們?cè)谕苿?dòng)道路安全領(lǐng)域所展現(xiàn)的領(lǐng)導(dǎo)力與創(chuàng)新實(shí)踐。
2025-12-30 16:20:44
641 脈沖寬度測(cè)量。Femto Easy MS-ROC多次自相關(guān)儀基于邁克爾遜干涉儀和二次諧波生成（SHG 自相關(guān)）。不同的型號(hào)允許分析低至 3 f
2025-12-29 17:21:24
測(cè)量需求檢查床CT滑軌運(yùn)行的定位精度、重復(fù)精度、直線度，旋轉(zhuǎn)架的旋轉(zhuǎn)精度和旋轉(zhuǎn)定位精度。激光干涉儀測(cè)量方案SJ6000激光干涉儀搭配線性鏡組+角度鏡組+直線度鏡組+WR50自動(dòng)精密轉(zhuǎn)臺(tái)。1、測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)
2025-12-24 16:44:10
0 優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000打破了傳統(tǒng)精密儀器“輕設(shè)計(jì)” 的固有認(rèn)知，憑借技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計(jì)，斬獲2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)！
2025-11-21 11:59:532029 
摘要：本文研究白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深腐蝕溝槽特征的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過實(shí)際案例驗(yàn)證測(cè)量精度，為晶圓深腐蝕工藝的質(zhì)量控制與器件性能優(yōu)化提供技術(shù)支持
2025-10-30 14:22:51225 
，具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點(diǎn)衍射激光干涉儀測(cè)量介觀顯微物鏡的檢測(cè)方案，具體方案如下圖所示：01光源部分1.D7系統(tǒng)的光源為連續(xù)波(CW)單模(SL
2025-10-29 11:06:07239 
摘要：本文研究白光干涉儀在肖特基二極管晶圓深溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深溝槽結(jié)構(gòu)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過實(shí)際案例驗(yàn)證其測(cè)量精度，為肖特基二極管晶圓深溝槽制造的質(zhì)量控制與性能優(yōu)化提供
2025-10-20 11:13:27279 
傳感器的濕法刻蝕膜厚偏差若超過 10nm，會(huì)導(dǎo)致靈敏度漂移；功率器件的結(jié)深不均會(huì)引發(fā)擊穿電壓波動(dòng)。傳統(tǒng)測(cè)量方法中，臺(tái)階儀雖能測(cè)深但效率低，且易劃傷腐蝕后的脆弱表面；光學(xué)顯微鏡僅能觀察二維形貌，無法量化三維輪廓。白光干涉
2025-09-26 16:48:41934 實(shí)驗(yàn)名稱： 相位調(diào)制零差干涉儀性能評(píng)價(jià)及實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?測(cè)試相位調(diào)制零差干涉儀在測(cè)量鏡靜止時(shí)，由環(huán)境參數(shù)變化引起測(cè)量干涉儀與參考干涉儀之間干涉信號(hào)的相位差，即被測(cè)位移相對(duì)于零點(diǎn)的漂移誤差。 測(cè)試
2025-09-22 13:43:54367 
在精密測(cè)量領(lǐng)域，干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)的儀器，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場(chǎng)景。其中，白光干涉儀與激光干涉儀是兩類具有代表性的設(shè)備，二者在原理、性能及適用場(chǎng)景上存在顯著差異。明確這些差異并掌握其應(yīng)用特點(diǎn)，對(duì)合理選擇測(cè)量工具具有重要意義。
2025-09-20 11:16:00982 表面粗糙度作為衡量材料表面微觀形貌的關(guān)鍵指標(biāo)，其精準(zhǔn)測(cè)量在精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有重要意義。白光干涉儀與原子力顯微鏡（AFM）是兩類常用的粗糙度測(cè)試工具，二者基于不同的測(cè)量原理，在測(cè)試范圍、精度及適用性上存在顯著差異。明確這些差異對(duì)于選擇合適的測(cè)量方法、保障數(shù)據(jù)可靠性具有重要價(jià)值。
2025-09-20 11:15:07829 3D輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑
2025-09-12 17:27:11
在半導(dǎo)體、鋰電、光伏、航空航天等高端制造領(lǐng)域，高精度光學(xué)測(cè)量技術(shù)是把控產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)工藝的核心支撐，直接關(guān)系到產(chǎn)業(yè)升級(jí)與技術(shù)創(chuàng)新進(jìn)程。白光干涉儀與共聚焦顯微鏡是高端制造常用核心測(cè)量設(shè)備，白光
2025-09-11 18:16:43583 
中圖儀器國(guó)產(chǎn)白光干涉3D輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
2025-09-05 15:12:05
從實(shí)驗(yàn)室的光譜分析設(shè)備到工業(yè)檢測(cè)的激光干涉儀，微型導(dǎo)軌通過實(shí)現(xiàn)光路組件的精準(zhǔn)位移與穩(wěn)定定位.
2025-09-03 17:58:30579 
測(cè)量方法中，掃描電鏡需真空環(huán)境且無法直接獲取高度信息，原子力顯微鏡效率低難以覆蓋大面積檢測(cè)。白光干涉儀憑借非接觸、高精度、快速三維成像的特性，成為光刻圖形測(cè)量的核心工具，為光刻膠涂覆、曝光、顯影等工藝的參數(shù)優(yōu)化
2025-09-03 09:25:20648 中圖儀器SuperViewW粗糙度白光干涉輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
2025-09-01 16:05:47
），傳統(tǒng)測(cè)量方法（如光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡）難以同時(shí)實(shí)現(xiàn)非接觸、高精度的三維輪廓表征。白光干涉儀憑借納米級(jí)垂直分辨率和快速三維成像能力，成為柵線高度及輪廓測(cè)量的核心技術(shù)手段，為電池片制造工藝優(yōu)化提供了精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐。 太陽(yáng)能電池片
2025-08-29 09:49:08403 SuperViewW納米級(jí)精密測(cè)量白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作
2025-08-11 13:54:04
中圖儀器國(guó)產(chǎn)精密白光干涉儀SuperViewW利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器，主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣
2025-08-08 15:26:05
SuperViewW國(guó)產(chǎn)光學(xué)輪廓白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作
2025-08-07 13:48:07
能光子灣將對(duì)掃描白光干涉儀的校準(zhǔn)及誤差補(bǔ)償技術(shù)的進(jìn)展進(jìn)行展開介紹。作為一種光學(xué)測(cè)量手段，掃描白光干涉術(shù)先天具有高精度、快速、高數(shù)據(jù)密度和非接觸式測(cè)量等優(yōu)勢(shì)。校準(zhǔn)對(duì)
2025-08-05 17:53:531254 的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。SuperViewW系列產(chǎn)品不通
2025-07-31 11:36:39
中圖儀器SJ6000精密激光干涉儀器利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量
2025-07-29 15:24:40
中圖儀器白光干涉光學(xué)粗糙度檢測(cè)儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能
2025-07-28 15:36:38
在半導(dǎo)體芯片制造過程中，臺(tái)階結(jié)構(gòu)的精確測(cè)量至關(guān)重要，通常采用白光干涉儀或步進(jìn)儀等非接觸式測(cè)量設(shè)備進(jìn)行監(jiān)控。然而，SiO?/Si臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)在測(cè)量中存在的問題顯著影響了測(cè)量精度。傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)的上表
2025-07-22 09:53:20575 
當(dāng)協(xié)作機(jī)器人需要執(zhí)行微米級(jí)的精密任務(wù)時(shí)，一個(gè)隱形挑戰(zhàn)浮出水面：如何確保其核心動(dòng)力單元DD馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)精度達(dá)到角秒級(jí)？答案藏在一束激光的干涉條紋之中。解決方案：SJ6000激光干涉儀+角度反射鏡組
2025-07-09 13:24:261389 
的精細(xì)化檢測(cè)需求。武漢昊衡科技有限公司憑借自主研發(fā)的?OLI系列白光干涉儀?，以?-100dB靈敏度、12cm-90cm動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍、秒級(jí)高速掃描?等突破性性能?，為C
2025-07-04 17:31:531602 
中圖儀器SuperViewW白光干涉三維形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
2025-07-01 13:45:47
引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域，光刻圖形線寬變化直接影響器件性能與集成度。精確控制光刻圖形線寬是保障工藝精度的關(guān)鍵。本文將介紹改善光刻圖形線寬變化的方法，并探討白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中
2025-06-30 15:24:55736 
深入探討白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的應(yīng)用。 改善光刻圖形垂直度的方法 優(yōu)化光刻膠性能 光刻膠的特性直接影響圖形垂直度。選用高對(duì)比度、低膨脹系數(shù)的光刻膠，可減少曝光和顯影過程中的圖形變形。例如，化學(xué)增幅型光刻膠具有良
2025-06-30 09:59:13489 干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的應(yīng)用。 針對(duì)晶圓上芯片工藝的光刻膠剝離方法 濕法剝離 濕法剝離是晶圓芯片工藝中常用的光刻膠去除方式。通過將涂覆光刻膠的晶圓浸入含有特定化學(xué)成分的剝離液中，利用剝離液與光刻膠發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，
2025-06-25 10:19:48815 物的應(yīng)用，并探討白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的作用。 金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合物 配方組成 金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合物主要由有機(jī)溶劑、堿性助劑、緩蝕體系和添加劑構(gòu)成。有機(jī)溶劑如 N - 甲基 - 2 - 吡咯烷酮（NMP），
2025-06-24 10:58:22565 SuperViewW白光干涉3D輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
2025-06-19 16:26:23
SuperViewW微觀3D形貌白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作
2025-06-18 15:41:56
至關(guān)重要。本文將介紹用于 ARRAY 制程工藝的低銅腐蝕光刻膠剝離液，并探討白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的應(yīng)用。 用于 ARRAY 制程工藝的低銅腐蝕光刻膠剝離液 配方設(shè)計(jì) 低銅腐蝕光刻膠剝離液需兼顧光刻膠溶解能力與銅保護(hù)性能。其主要成分包括有機(jī)溶
2025-06-18 09:56:08693 測(cè)量對(duì)工藝優(yōu)化和產(chǎn)品質(zhì)量控制至關(guān)重要。本文將探討低含量 NMF 光刻膠剝離液及其制備方法，并介紹白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的應(yīng)用。 低含量 NMF 光刻膠剝離液及制備方法 配方組成 低含量 NMF 光刻膠剝離液主要由低濃度 NMF、助溶劑、堿性物質(zhì)、緩蝕劑
2025-06-17 10:01:01678 介紹白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的作用。 金屬低刻蝕的光刻膠剝離液 配方設(shè)計(jì) 金屬低刻蝕光刻膠剝離液需平衡光刻膠溶解能力與金屬保護(hù)性能。其核心成分包括有機(jī)溶劑、堿性物質(zhì)和緩蝕劑。有機(jī)溶劑（如 N - 甲基吡咯烷酮）負(fù)責(zé)溶
2025-06-16 09:31:51586 干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的應(yīng)用。 ? 減少光刻膠剝離工藝對(duì)器件性能影響的方法 ? 優(yōu)化光刻膠材料選擇 ? 選擇與半導(dǎo)體襯底兼容性良好的光刻膠材料，可增強(qiáng)光刻膠與襯底的粘附力，減少剝離時(shí)對(duì)襯底的損傷風(fēng)險(xiǎn)。例如，針對(duì)特定的硅基襯
2025-06-14 09:42:56736 在我們上一篇文章中《應(yīng)用探究|PPLN波導(dǎo)賦能量子重力傳感：星載冷原子干涉儀應(yīng)用》，我們分享了昊量光電提供的英國(guó)CovesionMgO：PPLN波導(dǎo)組件應(yīng)用于重力儀中的冷原子干涉儀的應(yīng)用，憑借其環(huán)境
2025-06-11 11:09:39595 、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW系列3D白光干涉輪廓儀測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于
2025-06-10 17:42:52
一款叫Otto的桌面機(jī)器人成功引爆各個(gè)技術(shù)圈，外形迷你呆萌，功能豐富：既能做你的AI聊天搭子，又能跳邁克爾杰克遜的太空步，還可作為STEM教育工具，供兒童和編程新手快速入門，趣味十足、操控感極強(qiáng)。更
2025-06-05 19:25:361452 
SuperViewW高精度3D白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑
2025-06-05 10:37:33
，通過不同長(zhǎng)度傳輸線對(duì)不同頻率呈現(xiàn)的不同相移實(shí)現(xiàn)移相，移相精度高 。 隨著數(shù)字技術(shù)發(fā)展，數(shù)字移相器（如基于 FPGA、DSP 的移相方案）逐漸替代模擬方案，通過數(shù)字算法實(shí)現(xiàn)高精度、可編程的相位控制，但模擬移相因其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低的特點(diǎn)，
2025-06-03 18:02:031266 
白光干涉儀納米級(jí)管控微流控芯片表面粗糙度，以及微流道高度和寬度，提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量，滿足不同客戶需求。
2025-05-29 17:34:05584 
引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域，光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料，其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質(zhì)量。同時(shí)，精準(zhǔn)測(cè)量光刻圖形對(duì)把控工藝質(zhì)量意義重大，白光干涉儀為此提供了有力的技術(shù)保障
2025-05-29 09:38:531103 
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面
2025-05-28 08:48:10
SuperViewW白光形貌干涉儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短
2025-05-23 14:53:50
等極端環(huán)境。千分尺調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)具備自鎖功能，避免相位漂移。典型應(yīng)用l 相控陣?yán)走_(dá)系統(tǒng)：實(shí)現(xiàn)波束形成與指向的精確控制l 衛(wèi)星通信：優(yōu)化天線波束參數(shù)，提升信號(hào)傳輸質(zhì)量l 測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)：為毫米波設(shè)備提供相位基準(zhǔn)校準(zhǔn)l 電子對(duì)抗系統(tǒng)：生成精確相位干擾信號(hào)l 干涉儀測(cè)量：配合直讀式移相器完成高精度相位測(cè)量
2025-05-23 09:58:42
? 引言 ? Micro OLED 作為新型顯示技術(shù)，在微型顯示領(lǐng)域極具潛力。其中，陽(yáng)極像素定義層的制備直接影響器件性能與顯示效果，而光刻圖形的精準(zhǔn)測(cè)量是確保制備質(zhì)量的關(guān)鍵。白光干涉儀憑借獨(dú)特
2025-05-23 09:39:17628 SuperViewW光學(xué)表面輪廓白光干涉儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程
2025-05-21 14:37:13
位移傳感器模組的編碼盤，其粗糙度及碼道的刻蝕深度和寬度，會(huì)對(duì)性能帶來關(guān)鍵性影響。優(yōu)可測(cè)白光干涉儀精確測(cè)量表面粗糙度以及刻蝕形貌尺寸，精度最高可達(dá)亞納米級(jí)，解決產(chǎn)品工藝特性以及量化管控。
2025-05-21 13:00:14829 
環(huán)境下的魯棒性，當(dāng)擔(dān)重力儀中的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換產(chǎn)生冷卻光和拉曼光的重任。重力是地球生命最熟悉的自然力量，它無時(shí)無刻不在塑造著我們的世界——從腳下土壤的微妙變化到宇宙天體的運(yùn)
2025-05-21 11:14:35839 實(shí)驗(yàn)名稱：正弦加三角波復(fù)合相位調(diào)制雙零差干涉儀位移測(cè)量相關(guān)實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模悍€(wěn)定性實(shí)驗(yàn)中，測(cè)試雙零差干涉儀在測(cè)量鏡M2靜止時(shí)，進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)量時(shí)，環(huán)境參數(shù)變化引起的兩路干涉信號(hào)相位差的漂移情況。 測(cè)試
2025-05-16 15:34:08416 
相位信息的光強(qiáng)信號(hào)，經(jīng)過特定設(shè)計(jì)的信號(hào)處理模塊，將反饋信號(hào)加載在激光器的調(diào)頻端口上，即可鎖定輸出激光的頻率，從而有效降低頻率噪聲。本節(jié)采用自主研制的帶有壓電陶瓷（PZT）的單頻光纖激光器，結(jié)合非平衡光纖干涉儀的鑒
2025-05-15 11:49:43593 
1. 實(shí)驗(yàn)概述
邁克爾遜干涉儀是光學(xué)干涉儀中最常見的一種，其原理是一束入射光分為兩束后各自被對(duì)應(yīng)的平面鏡反射回來，這兩束光從而能夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)節(jié)干涉臂長(zhǎng)度來實(shí)現(xiàn)，從而
2025-05-08 08:51:37
SuperViewW系列高精度光學(xué)輪廓白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從
2025-05-06 18:00:44
好，相干光線追跡就會(huì)執(zhí)行。在探測(cè)器平面上的輻照度和彩色圖會(huì)得到計(jì)算并顯示出來。為了模擬邁克爾遜恒星干涉儀的運(yùn)行，額外的循環(huán)可以添加到腳本中，它會(huì)在每一步掃描反射鏡間距并計(jì)算條紋可見度。條紋可見度的第一個(gè)
2025-04-29 08:52:28
實(shí)驗(yàn)名稱：馬赫-增德爾干涉儀穩(wěn)定功率和抑制激光噪聲的實(shí)驗(yàn)研究 測(cè)試設(shè)備：電壓放大器、信號(hào)發(fā)生器、示波器、光電探測(cè)器、分束器、壓電陶瓷等。 實(shí)驗(yàn)過程： 圖1：利用MZI改善1550nm激光性能的實(shí)驗(yàn)
2025-04-25 11:50:33649 
研究摩擦學(xué)，能帶來什么價(jià)值？從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度，白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展？
2025-04-21 12:02:181128 
實(shí)驗(yàn)名稱：線性相位調(diào)制雙零差干涉儀位移測(cè)量相關(guān)實(shí)驗(yàn) 測(cè)試目的：測(cè)試雙零差干涉儀在測(cè)量鏡M2靜止時(shí)，進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)量時(shí)，環(huán)境參數(shù)變化引起的兩路干涉信號(hào)相位差的漂移情況。 測(cè)試設(shè)備：電壓放大器、He
2025-04-18 10:37:02580 
中圖儀器SJ6000國(guó)產(chǎn)高精度激光干涉儀利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，在機(jī)床加工領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。 產(chǎn)品應(yīng)用1.測(cè)量機(jī)床導(dǎo)軌的直線度和平行度
2025-04-16 11:05:29
實(shí)驗(yàn)名稱： 干涉法測(cè)算的壓電系數(shù)基本原理 研究方向： 光的干涉原理現(xiàn)在已經(jīng)廣泛應(yīng)用在各種領(lǐng)域中，特別是在光譜學(xué)、精密計(jì)量及探測(cè)中。當(dāng)振動(dòng)方向相同的兩列波（或者多列波）在空間中某一位置相遇時(shí)，相遇位置
2025-04-03 10:45:10517 
測(cè)量精度小于1納米，性能進(jìn)入全球一梯隊(duì)，優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
2025-03-27 11:03:581025 
來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個(gè)X射線成像實(shí)驗(yàn)：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級(jí)X射線成像點(diǎn)；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射
2025-03-21 09:22:57
摘要
X射線成像通常基于Talbot效應(yīng)和光柵的自成像。 在N. Morimoto等人的工作之后，我們選擇了三種類型的相位光柵，分別是交叉形，棋盤形和網(wǎng)格形圖案。 本案例中，光柵被用于單光柵干涉儀中
2025-03-21 09:12:38
實(shí)驗(yàn)名稱： 相位調(diào)制零差干涉儀性能評(píng)價(jià)及實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?測(cè)試相位調(diào)制零差干涉儀在測(cè)量鏡靜止時(shí)，由環(huán)境參數(shù)變化引起測(cè)量干涉儀與參考干涉儀之間干涉信號(hào)的相位差，即被測(cè)位移相對(duì)于零點(diǎn)的漂移誤差。 測(cè)試
2025-03-12 11:42:29609 
中圖儀器SuperViewW桌面式白光干涉光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全
2025-03-11 13:58:26
SJ6000國(guó)產(chǎn)單頻激光干涉儀具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)，結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量
2025-03-03 14:59:31
除了邁克爾遜干涉和Linnik型干涉外，常見的干涉設(shè)計(jì)還有多種，以下是一些主要的類型：
馬赫-增德爾（Mach-Zehnder）干涉：
原理：通過分束器將一束光分成兩束，這兩束光分別在不同的路徑中
2025-03-03 13:29:18383 
欲知優(yōu)可測(cè)旗艦產(chǎn)品白光干涉儀新技術(shù)，盡在慕尼黑上海光博會(huì)優(yōu)可測(cè)展位E7.7550！
2025-02-28 19:45:36879 
激光干涉儀以高精度測(cè)量磁致伸縮位移傳感器，通過非接觸式、多點(diǎn)標(biāo)定和動(dòng)態(tài)測(cè)量，確保傳感器精度，適用于精密制造、科研等領(lǐng)域，需注意安裝精度、環(huán)境控制和定期校準(zhǔn)。
2025-02-27 18:14:39940 
SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑
2025-02-27 15:54:20
近年來，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，被多篇科研論文使用，在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果，展示了其在高精度檢測(cè)方面的優(yōu)勢(shì)。
2025-02-24 17:02:211112 
、位置等參數(shù)；位移測(cè)量是通過測(cè)量干涉條紋的位移來確定物體的位移量。這兩種測(cè)量原理在不同應(yīng)用場(chǎng)景下有著各自的優(yōu)勢(shì)和適用性。 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)1、激光干涉儀具有非常高
2025-02-19 14:59:12
摘要
本用例以眾所周知的邁克爾遜干涉儀為例，展示了分布式計(jì)算的能力。多色光源與干涉測(cè)量裝置的一個(gè)位置掃描的反射鏡相結(jié)合，以執(zhí)行詳細(xì)的相干測(cè)量。使用具有六個(gè)本地多核PC組成的網(wǎng)絡(luò)分布式計(jì)算，所得
2025-02-14 09:46:45
壓電移相器顧名思義是一種通過壓電效應(yīng)原理進(jìn)行移相的器件，內(nèi)置高性能壓電陶瓷，可通過給壓電陶瓷施加電壓產(chǎn)生微運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)移相功能，由于壓電陶瓷精度高、響應(yīng)速度快可以產(chǎn)生納米級(jí)步進(jìn)運(yùn)動(dòng)和毫秒級(jí)快速響應(yīng)實(shí)現(xiàn)
2025-02-13 10:17:48724 
零差式激光干涉技術(shù)是在經(jīng)典邁克爾遜干涉原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高精度測(cè)量技術(shù)。以下是對(duì)這一技術(shù)的詳細(xì)介紹：
一、經(jīng)典邁克爾遜干涉原理
邁克爾遜干涉儀是一種利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實(shí)現(xiàn)干涉的光學(xué)儀器
2025-02-11 09:43:29320 外差式激光干涉和零差式激光干涉是兩種不同的激光干涉測(cè)量技術(shù)，它們?cè)诠ぷ髟?、特點(diǎn)和應(yīng)用方面存在顯著的差異。以下是對(duì)這兩種技術(shù)的詳細(xì)比較：
一、工作原理
外差式激光干涉
外差式激光干涉儀又稱雙頻干涉儀
2025-02-10 11:28:47443 傳統(tǒng)AFM檢測(cè)氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)方案僅需3秒，百倍提升檢測(cè)效率！
2025-02-08 17:33:50994 
白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理主要基于光的干涉原理，通過測(cè)量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來精確計(jì)算薄膜的厚度。以下是該原理的詳細(xì)解釋：
一、基本原理
當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí)，部分光線會(huì)在薄膜表面
2025-02-08 14:24:34508 白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對(duì)該原理的詳細(xì)解釋：
一、基本原理
白光干涉儀利用干涉原理測(cè)量光程之差，從而測(cè)定有關(guān)物理量。在光譜干涉模式中，白光作為光源，其發(fā)出的光
2025-02-07 15:11:00563 白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，它利用白光干涉原理來測(cè)量物體表面的形貌和高度等信息。在白光干涉儀中，垂直掃描干涉測(cè)量模式（VSI）、相移干涉測(cè)量模式（PSI）以及結(jié)合VSI和PSI的高分辨測(cè)量
2025-02-06 10:39:28541 邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理是光學(xué)研究中的重要內(nèi)容。以下是對(duì)這些方面的詳細(xì)解釋：
一、邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)
邁克耳孫干涉儀利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實(shí)現(xiàn)干涉。在白光
2025-01-23 14:58:48585 VirtualLab Fusion中，然后如何將其用作系統(tǒng)中光源的光譜組成？
地外太陽(yáng)光譜數(shù)據(jù)來自Wehrli, C. World Radiation Center (WRC), 615(1), 10-17, (1985).
在光學(xué)系統(tǒng)中使用光源
將光譜導(dǎo)入光源
邁克爾遜干涉儀實(shí)驗(yàn)
2025-01-23 10:22:34
白光干涉對(duì)于環(huán)境防振要求高的原因，主要可以從其測(cè)量原理和應(yīng)用需求兩個(gè)方面來解釋。
一、測(cè)量原理
白光干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡
2025-01-22 14:23:18342 好，相干光線追跡就會(huì)執(zhí)行。在探測(cè)器平面上的輻照度和彩色圖會(huì)得到計(jì)算并顯示出來。為了模擬邁克爾遜恒星干涉儀的運(yùn)行，額外的循環(huán)可以添加到腳本中，它會(huì)在每一步掃描反射鏡間距并計(jì)算條紋可見度。條紋可見度的第一個(gè)極小值會(huì)出現(xiàn)在d=λ0/(2θ)處，其中λ0是恒星（發(fā)光）的中心波長(zhǎng)，θ是以度為單位的角距。
2025-01-21 09:58:16
SJ6000高穩(wěn)定性激光干涉儀的測(cè)量原理主要包括相位測(cè)量和位移測(cè)量。相位測(cè)量是通過測(cè)量干涉條紋的相位差來計(jì)算被測(cè)量物體的形狀、位置等參數(shù)；位移測(cè)量是通過測(cè)量干涉條紋的位移來確定物體的位移量。這兩種
2025-01-20 17:23:36
一、基本原理相關(guān)問題1.激光干涉儀的工作原理是什么？-激光干涉儀主要是基于光的干涉原理。它通常使用氦-氖（He-Ne）激光器等作為光源，發(fā)出單一頻率的相干光。這束光被分光鏡分為兩束，一束作為參考光
2025-01-15 17:05:281316 
原理相關(guān)1、白光干涉儀的基本原理是什么：白光干涉儀的基本原理是利用光學(xué)干涉原理。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束，一束光經(jīng)被測(cè)表面反射回來，另一束光經(jīng)參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發(fā)
2025-01-09 16:02:321699 
時(shí)，它們會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，形成明暗相間的干涉條紋。這些干涉條紋的形成取決于兩束光的相位差，而相位差則與它們經(jīng)過的光程差緊密相關(guān)。
在白光干涉儀中，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直
2025-01-09 10:42:24317 
獲取待測(cè)物體的精確信息。
一、基本原理
在白光干涉儀中，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后，通過分光棱鏡被分成兩束相干光：一束作為參考光，經(jīng)過固定的光路到達(dá)干涉儀的接收屏；
2025-01-08 10:37:39359 在白光干涉測(cè)量中，通過光學(xué)元件的插入與移除來實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種獨(dú)特而有效的方法。這種方法的核心在于利用光學(xué)元件（如透鏡、反射鏡、棱鏡等）對(duì)光路的改變，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)相位差的調(diào)制。以下是對(duì)這一
2025-01-07 10:48:03396 SJ6000高精度激光干涉儀測(cè)量系統(tǒng)集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，采用激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)高精度、抗擾力強(qiáng)、長(zhǎng)期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出。儀器具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速
2025-01-06 14:32:33
一、基本原理
在白光干涉儀中，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后，通過分光棱鏡被分成兩束相干光：一束作為參考光，經(jīng)過固定的光路到達(dá)干涉儀的接收屏；另一束作為待測(cè)光，經(jīng)過樣品臺(tái)后被反射或透射，再與參考光相遇
2025-01-06 10:38:38291
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