精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測系統(tǒng)原理

隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量要求越來越高，產(chǎn)品表面質(zhì)量檢測變得日益重要，過去很多表面缺質(zhì)量測是依靠人工檢測，這種檢測方法效率低，受到人的情緒影響比較大，因此，采用機(jī)器視覺的方法來檢測表面質(zhì)量是一個比較好的方法。

傳統(tǒng)的檢測方法如人工目視抽檢速度慢、精度低、易疲勞已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求。在薄膜的生產(chǎn)過程中，由于生產(chǎn)工藝及現(xiàn)場環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產(chǎn)過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產(chǎn)的根源，實(shí)現(xiàn)控制和提高薄膜的表面質(zhì)量，一直是薄膜企業(yè)追求的目標(biāo)?；贑CD的薄膜表面瑕疵檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)時在線檢測，自動報警并顯示當(dāng)前瑕疵的具體信息，以便及時進(jìn)行處理。

精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測系統(tǒng)原理：

視覺系統(tǒng)的輸出并非圖像視頻信號，而是經(jīng)過運(yùn)算處理之后的檢測結(jié)果（如缺陷、尺寸等數(shù)據(jù)）。通常，機(jī)器視覺檢測就是用機(jī)器代替肉眼來做測量和判斷。首先采用CCD照相機(jī)將被攝取目標(biāo)轉(zhuǎn)換成圖像信號，傳送給專用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息，轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號。

圖像系統(tǒng)對這些信號進(jìn)行各種運(yùn)算來抽取目標(biāo)的特征，如：面積、長度、數(shù)量、位置等。最后，根據(jù)預(yù)設(shè)的容許度和其他條件輸出結(jié)果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、個數(shù)、合格/不合格、有/無等。上位機(jī)（如PC和PLC）實(shí)時獲得檢測結(jié)果后，指揮運(yùn)動系統(tǒng)或I/O系統(tǒng)執(zhí)行相應(yīng)的控制動作（如定位和分類）。

精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：

檢測對象：保護(hù)膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學(xué)膜等等

典型瑕疵：晶點(diǎn)、黑點(diǎn)、蚊蟲、污點(diǎn)、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據(jù)生產(chǎn)線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機(jī)數(shù)量、產(chǎn)線幅寬及車速）

瑕疵標(biāo)識：自動聲光報警、截取當(dāng)前瑕疵圖片及實(shí)時X/Y坐標(biāo)瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據(jù)批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測系統(tǒng)功能：

精確的瑕疵坐標(biāo)（X，Y坐標(biāo)）定位及顯示；

自動聲光報警，并顯示當(dāng)前及前后10個瑕疵圖像；

實(shí)時瑕疵標(biāo)定，記錄瑕疵直徑、坐標(biāo)、類型等信息；

實(shí)時監(jiān)測米數(shù)，報警信息顯示；

產(chǎn)品基本信息模塊，記錄產(chǎn)品批次、型號、規(guī)格、班號、操作員等信息；

根據(jù)瑕疵形狀、面積大小、灰度差異等特征實(shí)現(xiàn)瑕疵自動分類；

自動生成每一卷產(chǎn)品的產(chǎn)品瑕疵記錄，用戶可根據(jù)批次號直接查詢；

自動換卷，自動打印每一卷產(chǎn)品信息的質(zhì)量報表；

檢測歷史記錄的自動統(tǒng)計、保存、查詢、調(diào)用及打印等功能

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