A. 基本資料：2. 反饋不良樣品數(shù)量：114pcs 。3. 客戶名稱

　　B. 異常內(nèi)容：測試VF和IR正常88pcs，可正常點亮。取其中5pcs正常品、和1pcs去掉透鏡，再使用350mA常溫條件老化48小時，均未出現(xiàn)死燈不良現(xiàn)象，各項參數(shù)正常。2．開路死燈26pcs附：焊線過程線弧各位置的定義如下圖：

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圖1：焊線不良圖

　　A點：晶片電極與金球結(jié)合處；

　　B點：金球與金線結(jié)合處即球頸處；

　　2. 從斷點死燈的情況來看，造成斷線的一般原因有：

　　2.1. 針對C點斷線：2.1.2、瓷嘴污染、磨損造成金線內(nèi)傷斷線、人工修線弧造成金線刮傷；情形與2.1.1.相似。如下圖2示意圖。2.1.3、外力過大/膠水內(nèi)應(yīng)力拉扯斷線；針對外力過大拉斷金線，后面3.2做詳細分析。

受損金線圖（掃描電鏡SEM）

　　圖2：受損金線圖，這部分主要是瓷嘴質(zhì)量問題，使用超過壽命所致；瓷嘴壽命不能以固定“實際打線產(chǎn)量”為準(zhǔn)，而是結(jié)合焊線效果決定；當(dāng)不足產(chǎn)量要求時，若已經(jīng)造成焊線效果不合格(結(jié)合高倍率顯微鏡檢驗)，也應(yīng)立即更換；另外，人工返工塌線修線不當(dāng)亦可造成金線刮傷。上圖為金線刮痕：（掃描電鏡）

　　2.2.2、瓷嘴尺寸與金線匹配不當(dāng)；瓷嘴內(nèi)徑過小會刮花金線；內(nèi)徑過大則會使金線在焊線過程中滑動不定、滑球等不良，也降低抗拉力程度。2.2.3、外力(膠水內(nèi)應(yīng)力)過大拉扯斷線；3. 從此次分析的不良樣品看，從斷線的C點位置來看，均出現(xiàn)在透鏡“壓彎折”處；如下圖：

圖5 燈珠全貌圖

　　如圖5所示：正常情況下線弧形成的弧形是平滑的曲線；而實際成品的線弧被透鏡壓了一個彎折處如圖5所示，該彎折出彎折的角度接近90°的彎折角。

　　此彎折過程一定對D點處的焊線有一定的拉扯力。而對B點處的位置，由于線弧還有一定的長度，可以緩沖這部分的拉力。3.1、如圖6透鏡的“紅色內(nèi)圈和藍色外圈”，與圖7“支架的紅色內(nèi)圈和藍色外圈”相對應(yīng)，從圖7明顯看出，透鏡的內(nèi)邊緣直接壓金線折成約90°彎折角度。

燈珠觀察

　　3.2、抽6pcs死燈的樣品分析，有4pcs均是從“金線彎折處”斷線；此斷線原理，一般是彎折過程透鏡邊緣過于“鋒利”，加之壓彎之外力較大，造成金線破損，在后續(xù)燈珠“工作過程”膠體的不定向內(nèi)應(yīng)力作用最后摧斷金線。另外一種情況，由于金線斷線后，仍是接觸得很近，低溫時保持接觸，仍可以點亮，但是隨著工作溫度的升高，膠體內(nèi)應(yīng)力變大金線稍微受力脫離接觸點，即會出現(xiàn)開路死燈，或是“時亮?xí)r不亮”的異常。

　　3.3 、從6pcs 死燈樣品分析有2pcs 均是從“D點處”斷線(就是焊線與焊巴的結(jié)合處斷線)；此處斷線原因在2.2.1做過分析，這里重點分析外力造成斷線，從3.2分析可知，二焊的D點受力，以及制程的拉力測試均通過，均可以說明二焊焊線參數(shù)不當(dāng)或瓷嘴不良造成二焊D 點受力不足的可能性次之，反而“蓋透鏡”時透鏡壓彎拉扯金線造成的損傷可能性要居首位。4. 綜上所述：且所有分析的未死燈的良品中，拆下透鏡，都可以發(fā)現(xiàn)，金線彎折處是直接接觸透鏡邊緣，金線與透鏡之間并未有膠體隔離，極易于使金線與透鏡之間形成摩擦使金線破損斷線；另從過去的異常“熒光粉處斷線”來看，可以說明“外力致使金線斷線”這一點。D. 預(yù)防對策：

　　2. 預(yù)防對策二：在“蓋透鏡制程”中，避免員工斜著蓋透鏡(即員工為了加快速度，定位時，先斜著扣壓透鏡的一邊“耳朵”，然后再扣下整個透鏡) ，這樣具有定位作用的扣下的“第一耳朵”就有可能過壓金線造成金線破損。蓋透鏡正確做法是對準(zhǔn)后，把透鏡直接垂直蓋下去。3. 預(yù)防對策三：透鏡壓邊確保到位，這樣避免透鏡后續(xù)的移動磨損金線而使金線受力不足斷線；

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