在半導(dǎo)體測試載板研發(fā)精度要求嚴苛、迭代節(jié)奏加快的背景下，仿真技術(shù)成為提升設(shè)計可靠性的關(guān)鍵。上海季豐電子仿真部門，核心聚焦硬件研發(fā)部門需求——專攻CP載板、Loadboard、HTOL Board
2026-01-05 14:03:58
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浙江季豐精密電子有限公司（以下簡稱“季豐精密”）已順利完成ISO 13485: 2016醫(yī)療器械質(zhì)量管理體系現(xiàn)場審核，并于12月正式獲認證證書，認證范圍覆蓋“有源非植入醫(yī)療器械的印刷電路板組件的制造”。
2026-01-05 13:59:48202 12月18日，上海市電子材料協(xié)會會長馬靜一行蒞臨季豐電子閔行總部參觀交流，協(xié)會副會長張偉明、周建輝，副會長兼秘書長王建成及秘書處相關(guān)人員隨行。季豐電子董事長兼總經(jīng)理鄭朝暉、輪值CEO倪衛(wèi)華攜公司管理團隊熱情接待，并與到訪嘉賓展開深度座談。
2025-12-28 15:21:51898 日前，季豐嘉善實驗室高速電阻測試設(shè)備已經(jīng)正式投入使用。該設(shè)備高速電阻采集能力通常應(yīng)用于板級跌落、板級四點彎曲、板級振動、板級球形彎曲等測試。
2025-12-19 14:02:16390 
在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難的問題，其根源往往不在于儀器操作或分析
2025-11-25 17:10:06617 
在TEM（透射電子顯微鏡）高精度的表征和FIB（聚焦離子束）切片加工技術(shù)之前，使用等離子體進行樣品預(yù)處理是一個關(guān)鍵的步驟，主要用于清潔和表面改性，其直接目的是提升成像質(zhì)量或加工效率。
2025-11-24 17:17:031235 近日，衢州季豐檢測技術(shù)有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）收到中國質(zhì)量認證中心（以下簡稱“CQC”）委托檢測實驗室資質(zhì)證書。該資質(zhì)的獲得，標志著衢州季豐在光伏組件檢測領(lǐng)域的專業(yè)能力與質(zhì)量管理體系已達到CQC所設(shè)定的高標準要求。
2025-11-19 11:21:13734 
DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關(guān)鍵內(nèi)容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關(guān)不穩(wěn)定性，DRB評估器件芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)因高dv/dt 導(dǎo)致的快速充電老化現(xiàn)象。因此，季豐電子引入業(yè)內(nèi)先進設(shè)備為廣大客戶提供檢測服務(wù)，為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)，創(chuàng)造共贏。
2025-11-19 11:19:10503 
季豐電子自研的PCB管理系統(tǒng)，整合報價+投板+Release三大核心模塊，覆蓋從設(shè)計發(fā)布、訂單對接到生產(chǎn)交付的全業(yè)務(wù)流程。
2025-11-11 14:51:181133 11月6日上午9時，季豐電子與日立科學(xué)儀器（北京）有限公司（以下簡稱“日立科學(xué)儀器”）舉行項目合作簽約儀式，標志著雙方戰(zhàn)略合作邁入全新里程碑。
2025-11-07 13:43:58323 11月6日，在第八屆中國國際進口博覽會的全球合作舞臺上，季豐電子與施耐德電氣正式簽署合作協(xié)議，以半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)為核心錨點，開啟多維協(xié)同的全新篇章。
2025-11-07 12:54:26407 從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀察微觀世界的能力不斷提升，推動了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進展。本文將講解現(xiàn)代微觀分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子
2025-11-06 12:36:07632 
在半導(dǎo)體材料的研究領(lǐng)域中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為一種不可或缺的分析工具。它能夠讓我們直接觀察到氮化鎵（GaN）外延片中原子級別的排列細節(jié)——這種第三代半導(dǎo)體材料，正是現(xiàn)代快充設(shè)備、5G通信
2025-10-31 12:00:073857 
近日，衢州季豐檢測技術(shù)有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）榮獲國際安全科學(xué)檢測和認證領(lǐng)域權(quán)威機構(gòu)UL Solutions“UL目擊實驗室（Witness Test Data Program，WTDP）”資質(zhì)認證。
2025-10-17 15:15:12673 為進一步滿足芯片測試設(shè)備在集成化、便攜性與高密度布板方面的需求，季豐電子對 DM256 桌面型256通道驅(qū)動器進行了全面升級。本次升級最顯著的改進，是設(shè)備體積的顯著減小，在保持原有強大功能的基礎(chǔ)上，進一步優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計，使其更適配緊湊型工作環(huán)境。
2025-10-17 15:13:521361 合適的顯微鏡成為許多科研工作者關(guān)心的問題。透射電子顯微鏡當研究需要觀察納米尺度（通常小于100納米）的結(jié)構(gòu)細節(jié)時，透射電子顯微鏡（TEM）無疑是首選工具。這種顯微
2025-09-28 23:29:24802 
上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱上海季豐電子）已于2021年7月首次獲得CNAS 認可證書。隨著實驗室業(yè)務(wù)不斷擴展，客戶需求越來越多。為更好地滿足客戶需求，實驗室在已獲得的CNAS 認可能力持續(xù)保持的基礎(chǔ)上，繼續(xù)擴大實驗室新增檢測項目。好消息，新增檢測項目已于2025年9月4日正式簽發(fā)。
2025-09-18 18:16:381142 聚焦FIB技術(shù)：微納尺度加工的利器聚焦離子束（FIB）技術(shù)以其卓越的精確度在微觀加工領(lǐng)域占據(jù)重要地位，能夠?qū)崿F(xiàn)從微米級到納米級的精細加工。FIB技術(shù)的關(guān)鍵部分是其離子源，大多數(shù)情況下使用的是液態(tài)金屬離子源，而鎵（Ga）由于其較低的熔點、較低的蒸氣壓以及卓越的抗氧化特性，成為最常用的離子材料。以下是構(gòu)成商業(yè)FIB系統(tǒng)的主要組件：1.液態(tài)金屬離子源：生成離子的起
2025-09-15 15:37:47399 
近日，新聲半導(dǎo)體SAW車規(guī)級產(chǎn)品在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q200認證測試，榮獲AEC-Q200證書。
2025-09-05 11:18:321031 在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展的今天，芯片質(zhì)量的把控至關(guān)重要。浙江季豐電子科技有限公司嘉善晶圓測試廠（以下簡稱嘉善晶圓測試廠）憑借在 CP（Chip Probing，晶圓測試）測試領(lǐng)域的深厚技術(shù)積累與創(chuàng)新突破，持續(xù)為全球芯片產(chǎn)業(yè)鏈提供堅實可靠的品質(zhì)保障，深受客戶的信任與好評。
2025-09-05 11:15:031032 8月29日，在盛劍科技成立20周年慶?；顒由?，季豐電子與盛劍科技舉行了正式的戰(zhàn)略合作簽約儀式。
2025-09-01 18:08:321035 近日，安徽歐思微科技有限公司（以下簡稱“歐思微”）的車規(guī)產(chǎn)品U1011A在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100認證測試，并榮獲AEC-Q100認證證書。
2025-09-01 15:57:19985 中圖儀器掃描電鏡SEM電子顯微鏡CEM3000系列采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上
2025-09-01 15:51:54
在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，高性能、高可靠性的測試設(shè)備是保障芯片品質(zhì)與量產(chǎn)效率的核心關(guān)鍵。目前上海季豐電子已經(jīng)具備上海御渡K8000芯片測試平臺的硬件開發(fā)設(shè)計能力。
2025-08-28 16:59:161682 CEM3000國產(chǎn)掃描電鏡SEM廠家憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-22 11:19:12
CEM3000精密掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-08-20 11:15:48
一、什么是TEM?透射電子顯微鏡是利用波長較短的電子束作為照明源，利用電磁透鏡進行聚焦成像的高分辨本領(lǐng)和高放大倍數(shù)電子光學(xué)儀器。二、透射電子顯微鏡成像方式由電子槍發(fā)射高能、高速電子束；經(jīng)聚光鏡聚焦后
2025-08-18 21:21:55823 
中圖儀器sem電子顯微電鏡CEM3000憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空
2025-08-18 15:16:32
在半導(dǎo)體領(lǐng)域，軟件工具和IT系統(tǒng)可以極大地提高工作效率、工作質(zhì)量，給客戶提供更優(yōu)質(zhì)和高效的服務(wù)。
2025-08-18 11:28:16706 
? 產(chǎn)品介紹：ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源，三級獨立真空設(shè)計，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD
2025-08-15 11:38:27
CEM3000國產(chǎn)掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-14 14:29:44
近日，衢州季豐檢測技術(shù)有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）正式收到中國合格評定國家認可委員會（CNAS）頒發(fā)的擴項能力認可證書。這標志著衢州季豐的檢測能力和質(zhì)量管理體系再次獲得國家權(quán)威認可。
2025-08-13 10:40:341190 近期，季豐電子成功為客戶定制開發(fā)200MHz桌面型測試機，從需求討論、器件選型、硬件設(shè)計、SI/PI仿真、生產(chǎn)加工、配合客戶進行軟硬件系統(tǒng)聯(lián)調(diào)及平臺驗證，該測試機是專門為研發(fā)和實驗室定制的芯片驗證測試機臺。
2025-08-13 10:39:181037 CEM3000電子顯微鏡掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-08-12 15:41:44
CEM3000國產(chǎn)精密掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空
2025-08-08 15:07:24
CEM3000掃描電子顯微電鏡品牌憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-06 13:55:22
幾乎任何與材料相關(guān)的領(lǐng)域都要用到透射電鏡，而最常用的三大透射電鏡是：普通透射電子顯微鏡（TEM）、高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）和掃描透射電子顯微鏡(STEM)。本期內(nèi)容介紹三者的異同點。重點
2025-08-05 15:36:522066 
CEM3000SEM掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-04 13:43:34
近日，天津瑞發(fā)科半導(dǎo)體技術(shù)有限公司（以下簡稱“瑞發(fā)科”）的車載SerDes產(chǎn)品NS6129S和NS6168在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100認證測試，榮獲AEC-Q100認證證書。
2025-07-29 16:46:27923 基本概念與光路設(shè)置透射電子顯微鏡（TEM）的成像系統(tǒng)由三級透鏡組構(gòu)成，其中物鏡后焦面是衍射譜所在的位置。在該平面上插入可移動的“物鏡光闌”（objectiveaperture）后，可以人為地限定
2025-07-28 15:34:051902 
季豐電子極速封裝部再添 “新戰(zhàn)力”—— 正式具備 TO247-3P 封裝能力！這一技術(shù)突破不僅代表我們在封裝領(lǐng)域邁上一個新的臺階，同時將為廣大客戶帶來更適配、更高效的封裝解決方案，助力客戶產(chǎn)品研發(fā)加速落地。
2025-07-28 15:17:44911 技術(shù)本質(zhì)透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種以高能電子束代替可見光、利用電磁透鏡實現(xiàn)聚焦與放大的成像系統(tǒng)。其工作邏輯可以概括為：1.電子槍發(fā)射
2025-07-25 13:28:011517 
CEM3000掃描電子電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得
2025-07-25 10:45:02
，SEM的圖像顆粒輪廓、裂紋走向、元素襯度一目了然。透射電鏡（TEM）則讓高能電子直接“穿墻而過”。只有當樣品被削到百納米以下，電子才能帶著晶格間距、厚度、缺陷密
2025-07-18 21:05:211336 
中圖儀器掃描電子顯微電鏡CEM3000全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺式掃描電鏡，不僅擁有強大的抗振
2025-07-18 17:29:32
隨著點膠技術(shù)的成熟發(fā)展，傳統(tǒng)點膠模式不斷被先進工藝替代，噴射點膠憑借更短響應(yīng)時間、更高重復(fù)精度與更小膠量控制成為了很多客戶的首選。
2025-07-18 16:54:53860 傳統(tǒng)透射電鏡（TEM）所依賴的多級電磁透鏡放大，而是以極細的電子探針在樣品表面執(zhí)行“光柵式”逐點逐行掃描。電子槍產(chǎn)生的初始電子束經(jīng)2–3級電磁透鏡聚焦，最終形成直徑可小
2025-07-17 16:07:54661 
為進一步提升對客戶的服務(wù)效率與響應(yīng)速度，季豐電子與孤波科技正式建立戰(zhàn)略合作關(guān)系。根據(jù)協(xié)議，季豐電子將部署一臺搭載孤波科技自主研發(fā)的向量轉(zhuǎn)換工具 Gubo PatternX 全功能版本的服務(wù)器，面向 ATE 實驗室借機需求的客戶，提供現(xiàn)場免費使用服務(wù)，助力客戶高效完成測試工作。
2025-07-16 10:04:48748 
季豐已成功部署并正式啟用全新一代高性能仿真計算機集群。此次升級是公司在研發(fā)基礎(chǔ)設(shè)施領(lǐng)域的一項戰(zhàn)略性投資，旨在通過技術(shù)驅(qū)動，全面提升項目交付的效率、規(guī)模與可靠性。
2025-07-15 11:04:28771 物理切割是指通過機械力、熱能、高壓流體或其他物理手段將材料分割成部分的過程。根據(jù)工具和原理的不同，可以分為多種類型，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、建筑、制造、電子等領(lǐng)域。
2025-07-14 11:29:45734 
近日，一場聚焦半導(dǎo)體前沿技術(shù)的行業(yè)盛會——2025季豐電子技術(shù)交流研討會·江蘇站，在江蘇無錫新湖鉑爾曼酒店盛大啟幕。
2025-07-08 17:53:041075 什么是透射電子顯微鏡？透射電子顯微鏡（TEM）的原理根基在于電子與物質(zhì)的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束，經(jīng)由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速，達到高能量水平（80KeV到300keV），隨后精準地照射到超薄
2025-07-07 15:55:461224 
近日，季豐精密機械成功完成三溫工程Kit自制，進一步提升了季豐ATE工程測試能力，提高了測試項目的整體響應(yīng)速度，可幫助客戶縮短制作周期，降低整體成本。
2025-07-05 11:45:17923 浙江季豐電子測試廠新引入的SLT HT3012CT + ATC 5.1系統(tǒng)級測試設(shè)備，集高效、精準、智能于一體，適配電子元件、半導(dǎo)體封裝等嚴苛場景，將助力測試廠搭建更加完整的三溫測試全流程服務(wù)體系，更好地服務(wù)客戶。
2025-07-05 11:43:13999 近日，季豐電子迎來了遼寧材料實驗室郭可信材料表征中心副主任周楊韜博士一行人員的到訪。此次交流活動旨在增進雙方了解，探索合作潛力，為未來的協(xié)同發(fā)展奠定基礎(chǔ)。
2025-07-03 16:18:10746 CEM3000微觀尺度形貌觀測掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測
2025-07-01 13:33:16
中圖儀器CEM3000材料表征SEM掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用
2025-06-27 11:37:55
季豐電子全新推出350℃高溫電路板，以行業(yè)領(lǐng)先的溫度能力，為高溫加速老化測試樹立新標桿！
2025-06-23 15:24:09836 季豐可靠性測試項目拓展AEC-Q100車規(guī)芯片驗證C6：LI - Lead Integrity 引腳完整性Q100要求。
2025-06-23 09:22:23904 
傳統(tǒng)的透射電鏡（TEM）技術(shù)往往只能提供材料在靜態(tài)條件下的結(jié)構(gòu)信息，無法滿足科研人員對材料在實際應(yīng)用環(huán)境中動態(tài)行為的研究需求。為了克服這一局限性，原位TEM技術(shù)應(yīng)運而生。
2025-06-19 16:28:44969 中圖儀器臺式鎢燈絲掃描電鏡品牌采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)
2025-06-19 16:03:47
中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率
2025-06-17 15:02:09
中圖儀器CEM3000桌面臺式掃描電子電鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非?？旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。產(chǎn)品功能1）臺式電鏡緊湊
2025-06-12 11:45:55
Society）上刊登了一份研究成果，利用原位透射電鏡技術(shù)首次在納米尺度揭示了無機固態(tài)電解質(zhì)中的軟短路向硬短路轉(zhuǎn)變機制及其背后的析鋰動力學(xué)。 ? 簡單來說，就是為固態(tài)電解質(zhì)的納米尺度失效機理提供了全新認知，改變了以往對固態(tài)電池短路問題的理解，從根本上揭示了其失效
2025-06-11 00:11:007151 
近日，上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱“季豐電子”）與杰平方半導(dǎo)體（上海）有限公司（以下簡稱“杰平方”）正式簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議，宣布共建半導(dǎo)體領(lǐng)域聯(lián)合實驗室。
2025-06-10 15:02:401102 中圖儀器CEM3000系列多探頭SEM掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而
2025-06-09 18:13:01
TEM的工作原理透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過電磁透鏡成像和分析的精密儀器。其工作原理基于電子束與樣品
2025-06-06 15:33:032379 
上海季豐計量有限公司(以下簡稱“季豐計量”)自2022年6月成立以來，始終堅持以“以人為本、滿足客戶、持續(xù)改進、追求卓越”為質(zhì)量方針，深耕計量校準領(lǐng)域，為制造業(yè)、科研機構(gòu)及高新技術(shù)企業(yè)提供專業(yè)化技術(shù)服務(wù)，助力產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展，深受客戶好評。
2025-06-05 18:07:011030 
為滿足客戶對低溫測試的要求，季豐電子成功自研了低高溫手動探針臺，目前已在季豐張江FA投入使用，該機臺填補了傳統(tǒng)常規(guī)型手動探針臺無法實現(xiàn)低溫測試環(huán)境的空白。
2025-06-05 13:38:04784 近期受晶圓廠委托， 季豐在執(zhí)行完SRAM芯片在中子輻射下SER測試后， 通過對SRAM芯片的深入研究，對測試失效數(shù)據(jù)的分析，將邏輯失效地址成功轉(zhuǎn)換為物理坐標地址，最終在圖像上顯示失效位置，幫助客戶直觀地看到失效點分布位置。 通過多個失效芯片圖像的疊加，客戶可以看到多個芯片失效積累效果。
2025-06-03 10:08:45862 近日，上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱“季豐電子”）與上海林眾電子科技有限公司（以下簡稱“林眾電子”）、上海瞻芯電子科技股份有限公司（以下簡稱“瞻芯電子”）正式達成戰(zhàn)略合作伙伴關(guān)系，三方將共建功率半導(dǎo)體領(lǐng)域聯(lián)合實驗室，聚焦技術(shù)研發(fā)、測試分析與產(chǎn)業(yè)服務(wù)，共同推動行業(yè)技術(shù)能力提升。
2025-05-27 17:53:47877 季豐電子，作為國內(nèi)半導(dǎo)體材料表征領(lǐng)域的領(lǐng)先企業(yè)，憑借其深厚的半導(dǎo)體級精密分析技術(shù)積淀，成功將業(yè)務(wù)延伸至新型電池材料評估領(lǐng)域，為客戶提供全方位、可靠的評價測試服務(wù)。
2025-05-23 16:38:13818 透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關(guān)，從而形成明暗
2025-05-23 14:25:231197 
價值的指導(dǎo)。透射電子顯微鏡的工作原理與強大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品，并通過電磁透鏡進行成像與分析的精密設(shè)備。其工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互
2025-05-22 17:33:57964 
透射電鏡的工作原理透射電鏡是基于電子束與超薄樣品相互作用。它利用電子加速槍產(chǎn)生高能電子束，經(jīng)過電磁透鏡聚焦和準直后照射到超薄樣品上。樣品中不同區(qū)域的原子對電子的散射和吸收程度不同，導(dǎo)致透過樣品后
2025-05-19 15:27:531179 
中圖儀器鎢燈絲掃描電鏡SEM采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節(jié)省
2025-05-13 15:50:16
在季豐電子的分析實驗室, 我們具備三個“微觀偵探”——SEM、FIB和TEM，它們就像“原子放大鏡”，可有效提升太陽能板發(fā)電效率。
2025-05-13 14:55:201570 什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子
2025-05-09 16:47:20810 
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發(fā)明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下，電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)過聚焦后形成細小的電子
2025-04-25 17:39:274261 
透射電鏡的成像原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用波長極短的電子束作為照明源的高分辨率電子光學(xué)儀器。其成像原理基于電子束與樣品的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束經(jīng)過加速和聚焦后照射到樣品上，電子
2025-04-22 15:47:171069 
和萃取復(fù)型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，其工作原理
2025-04-16 15:17:59829 
此前，4月9日-11日，上海交通大學(xué)自動化與感知學(xué)院及集成電路學(xué)院師生代表一行70余人，在上海交通大學(xué)自動化與感知學(xué)院陳欣副教授與微納電子學(xué)系副主任紀志罡教授的帶領(lǐng)下，對季豐電子閔行總部開展了一次深入的參訪交流活動。
2025-04-14 14:41:171032 中圖儀器CEM3000簡單易操作超高分辨率掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率
2025-04-10 10:11:16
在與客戶的交流中發(fā)現(xiàn)，部分客戶對某些測試在精度可滿足實驗需求的情況下，希望有更經(jīng)濟的解決方案。 為滿足客戶的這一需求，季豐電子開發(fā)了一款經(jīng)濟型精密探針座， MP-05探針座 。 應(yīng)用場合 主要應(yīng)用于
2025-04-09 18:36:31807 
季豐精密獲雙體系認證證書 2025年3月28日，浙江季豐精密電子有限公司順利通過了TQCSI集團認證，獲得ISO 14001和ISO 45001雙體系認證證書。 ? ? ? ISO 14001
2025-04-08 18:26:551037 
，其電子學(xué)系統(tǒng)也比TEM和SEM更為復(fù)雜，這使得STEM在硬件配置和操作維護方面都面臨一定挑戰(zhàn)，但同時也為其提供了獨特的性能優(yōu)勢。掃描透射電鏡的原理掃描透射電子顯微
2025-04-07 15:55:421657 
工具。透射電鏡的工作原理與技術(shù)優(yōu)勢透射電子顯微鏡的工作原理基于高能電子束的穿透與電磁透鏡的成像。它利用高能電子束穿透極薄的樣品，通過電磁透鏡系統(tǒng)對透射電子進行聚焦
2025-03-25 17:10:501835 
面對電子產(chǎn)品日益精密化、復(fù)雜化的挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)檢測手段已難以滿足大家對極致品質(zhì)的追求，浙江季豐精密導(dǎo)入全自動飛針智能首件測試儀，全面提升產(chǎn)品首件檢測效率與精準度，不僅使生產(chǎn)流程全面優(yōu)化，實現(xiàn)效率與品質(zhì)的雙重飛躍，更是我們對“零缺陷”承諾的踐行。
2025-03-21 14:24:42761 中圖儀器SEM掃描電鏡品牌采用鎢燈絲電子槍，制作工藝相對簡單，材料成本也較低，使得鎢燈絲電子槍的整體成本不高，從而降低了臺式掃描電鏡的設(shè)備采購成本。鎢燈絲電子槍可以在相對較低的真空度下工作，通常
2025-03-20 15:43:24
這一探索旅程中的得力助手，其原子尺度的空間分辨本領(lǐng)，使科研人員得以深度洞察材料的微觀構(gòu)造。（a）TEM透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理圖；（b）TEM測試照片（Co3O4納米片）
2025-03-20 11:17:12903 
PCBA 三防膠涂覆可保護印刷電路板，使其抵御惡劣環(huán)境，確保電子設(shè)備穩(wěn)定運行。傳統(tǒng)“手持噴壺”方式涂覆效率低、質(zhì)量不穩(wěn)定，難以滿足緊急訂單需求。因此，季豐電子引入業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的全自動選擇性涂覆機，依托
2025-03-13 11:47:401196 
透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡稱透射電鏡，是一種以波長極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。透射電子顯微鏡的工作原理
2025-03-06 17:18:441490 
雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進的微觀加工與分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。其不僅可以制作常見的截面透射電子
2025-02-28 16:11:341156 
SEM是掃描電鏡，英文全稱為ScanningElectronMicroscope。以下是關(guān)于掃描電鏡的一些基本信息：1、工作原理：掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生
2025-02-24 09:46:261293 
日前，北京奕斯偉計算技術(shù)股份有限公司（簡稱“奕斯偉計算”）車規(guī)級LCD顯示屏PMIC（車載顯示屏電源管理芯片）EPA9910在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100（Grade1）認證測試，獲AEC-Q100證書。
2025-02-13 09:46:371104 桌面式掃描電鏡是掃描電子顯微鏡的一種類型，它在結(jié)構(gòu)設(shè)計、功能特點等方面都有自身獨特之處，以下從其定義、原理、特點、應(yīng)用場景等方面進行具體介紹：1、定義與基本原理-定義：桌面式掃描電鏡是一種小型化
2025-02-12 14:47:52972 
掃描電鏡作為一種用于微觀結(jié)構(gòu)分析的重要儀器，在材料科學(xué)、生命科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、電子信息等多個領(lǐng)域都有重要作用。它具有以下顯著特征：1.高分辨率成像：能夠清晰呈現(xiàn)樣品表面的細微結(jié)構(gòu)，分辨率可達納米級
2025-02-12 14:42:101957 
透射電鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope，TEM）自1932年左右問世以來，便以其卓越的性能在微觀世界的研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它利用
2025-01-21 17:02:432605 
無法被清晰地觀察。為了解決這一問題，科學(xué)家們開始探索使用波長更短的光源來提高顯微鏡的分辨率。1932年，德國科學(xué)家恩斯特·魯斯卡（ErnstRuska）成功發(fā)明了透射電子顯微鏡（TEM），利用電子
2025-01-09 11:05:343157 
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