精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測設(shè)備高精度實時在線檢測產(chǎn)品表面質(zhì)量——精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測設(shè)備可根據(jù)客戶的具體需求搭建出符合要求的薄膜表面瑕疵缺陷檢測系統(tǒng)，系統(tǒng)可以準確地識別薄膜生產(chǎn)中的瑕疵從而進行及時的反饋生產(chǎn)線表面的缺陷信息，并對這些瑕疵進行分類處理，比人工進行瑕疵檢測大大提高了生產(chǎn)的效率，節(jié)省了成本，更好地保證了薄膜的質(zhì)量。

精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測設(shè)備原理：

視覺系統(tǒng)的輸出并非圖像視頻信號，而是經(jīng)過運算處理之后的檢測結(jié)果（如缺陷、尺寸等數(shù)據(jù)）。通常，機器視覺檢測就是用機器代替肉眼來做測量和判斷。首先采用CCD照相機將被攝取目標轉(zhuǎn)換成圖像信號，傳送給專用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息，轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號。

圖像系統(tǒng)對這些信號進行各種運算來抽取目標的特征，如：面積、長度、數(shù)量、位置等。最后，根據(jù)預(yù)設(shè)的容許度和其他條件輸出結(jié)果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、個數(shù)、合格/不合格、有/無等。上位機（如PC和PLC）實時獲得檢測結(jié)果后，指揮運動系統(tǒng)或I/O系統(tǒng)執(zhí)行相應(yīng)的控制動作（如定位和分類）。

精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

檢測對象：保護膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學(xué)膜等等

典型瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據(jù)生產(chǎn)線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機數(shù)量、產(chǎn)線幅寬及車速）

瑕疵標識：自動聲光報警、截取當(dāng)前瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據(jù)批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

精譜測控光學(xué)薄膜瑕疵檢測設(shè)備功能：

1.操作便捷

操作簡單，只需點擊“開始”、“停止”即可完成所有操作。

2.穩(wěn)定性高

可連續(xù)工作在極端溫度和廠房環(huán)境中。

3.100%幅面表面檢測

發(fā)現(xiàn)疵點時可根據(jù)設(shè)定發(fā)出報警，提示及時修復(fù)，避免大量缺陷產(chǎn)品的產(chǎn)生。

4.完整的表面質(zhì)量信息

材料表面疵點圖像由計算機進行保存，每卷產(chǎn)品都有完全的疵點圖像/位置和數(shù)量等信息，產(chǎn)品幅面邊緣根據(jù)需要可以進行自動貼標。

5.高精度檢測

方案可100%檢測出0.02 平方毫米以上的疵點缺陷，滿足客戶的不斷提升的產(chǎn)品品質(zhì)要求。

6.軟件數(shù)據(jù)庫管理功能

可以對生產(chǎn)的每卷材料進行精確的質(zhì)量統(tǒng)計，詳細的缺陷記錄（大小和位置）和統(tǒng)計為生產(chǎn)工藝及設(shè)備狀態(tài)調(diào)整提供了方便;離線分析，用于后續(xù)分切和質(zhì)量管理，可有效保證產(chǎn)品質(zhì)量。

7.定位標識功能

每生產(chǎn)一卷產(chǎn)品，系統(tǒng)會自動對這一卷產(chǎn)品的表面缺陷進行統(tǒng)計，同時打印出統(tǒng)計標簽，貼在每一卷產(chǎn)品上，跟隨產(chǎn)品發(fā)放下游。這樣用戶就可以通過每一卷產(chǎn)品上面的標簽對產(chǎn)品進行評級，從而有效的用于分配不同質(zhì)量要求的用途。

8.系統(tǒng)聯(lián)動

當(dāng)系統(tǒng)檢測到疵點時進行聲光報警，也可在系統(tǒng)中加入其他連鎖I/O 輸出。

9.一鍵導(dǎo)出

一鍵導(dǎo)出EXCEL缺陷明細表，便于用戶做進一步的查詢，分析，建檔。

注：軟件功能可根據(jù)用戶要求實現(xiàn)完全定制！

責(zé)任編輯：tzh