各位大爺覺(jué)得可靠性測(cè)試有沒(méi)有必要做？
2016-07-07 17:25:55
HALT & HASS是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6個(gè)月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周，且在這
2015-08-04 17:38:43
[size=***4pt]課程介紹：實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)的過(guò)程中有兩大難題，其中之一就是如何在實(shí)驗(yàn)室樣機(jī)階段就能把潛在的隱患激發(fā)出來(lái)，不要讓用戶(hù)成為我們的測(cè)試工程師。為了解決此問(wèn)題，我公司組織多位資深
2011-03-28 22:33:18
可靠性試驗(yàn)室若按試驗(yàn)目的來(lái)劃分，則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn);4.可靠性試驗(yàn)若按試驗(yàn)性質(zhì)來(lái)劃分，也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類(lèi)。5.但通常慣用的分類(lèi)法，可靠性試驗(yàn)是把它歸納為五大類(lèi):A.
2017-01-20 09:59:00
和電子輔料等可靠性應(yīng)用場(chǎng)景方面具有專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)、分析和試驗(yàn)能力，可為各研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)、失效分析、老化測(cè)試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類(lèi)可靠性檢測(cè)分析儀器，其中包括
2018-06-04 16:13:50
、ESD和雷擊試驗(yàn)等〕等?！“?b class="flag-6" style="color: red">試驗(yàn)的性質(zhì)劃分：可分為工程試驗(yàn)和統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)兩大類(lèi)。工程試驗(yàn)包括環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)和可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)包括可靠性鑒定〔驗(yàn)證〕試驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)。元器件失效分析 失效
2011-11-24 16:28:03
設(shè)計(jì)(使用冗余技術(shù))，使用故障診斷技術(shù)等。可靠性主要包括電路可靠性及元器件的選型有必要時(shí)用一定儀器檢測(cè)。可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施
2015-08-04 11:04:27
和技術(shù)管理輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢(xún)。2.馮敬東 中國(guó)電子電器可靠性工程協(xié)會(huì)高級(jí)講師，從事可靠性研究工作25年，對(duì)可靠性環(huán)境試驗(yàn)方法和可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有較深入的了解，其“硅壓力傳感器綜合評(píng)價(jià)
2010-08-27 08:25:03
，應(yīng)制定具體的管理要求的措施。（1）信息收集工作：應(yīng)分別對(duì)產(chǎn)品研制、生產(chǎn)檢驗(yàn)、試驗(yàn)、失效分析的各種記錄中所包含的有關(guān)可靠性信息，分門(mén)別類(lèi)地收集，并制定定期歸檔的管理制度。（2）信息加工工作：信息加工工作在
2009-05-24 16:49:57
可靠性是我們?cè)陂_(kāi)展電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中常常繞不開(kāi)的問(wèn)題。例如，客戶(hù)需要我們提供相關(guān)的可靠性預(yù)計(jì)報(bào)告，客戶(hù)需要我們的產(chǎn)品提供相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)報(bào)告，或者企業(yè)內(nèi)部需要控制產(chǎn)品質(zhì)量，制定了一系列的可靠性工作
2017-12-08 10:47:19
當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證，可靠性驗(yàn)證過(guò)程中產(chǎn)品失效時(shí)，透過(guò)板階整合失效分析能快速將失效接口找出，宜特協(xié)助客戶(hù)厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來(lái)達(dá)到產(chǎn)品通過(guò)驗(yàn)證并如期上市。 透過(guò)板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38
都應(yīng)通過(guò)這樣的測(cè)試。依我看，JEDEC制定的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該涵蓋這類(lèi)測(cè)試。您說(shuō)呢？” 客戶(hù)的質(zhì)疑是對(duì)的。為使GaN被廣泛使用，其可靠性需要在預(yù)期應(yīng)用中得到證明，而不是僅僅通過(guò)硅材料配方合格認(rèn)證（silicon
2018-09-10 14:48:19
、15min關(guān)的循環(huán)測(cè)試到壽命終了，對(duì)LED產(chǎn)品的測(cè)量顯然不現(xiàn)實(shí)。因此有必要對(duì)LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗(yàn)[1]，同時(shí)，也應(yīng)當(dāng)測(cè)試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)
2015-08-04 17:42:14
LabVIEW開(kāi)發(fā)的測(cè)試環(huán)境要如何驗(yàn)證自身的可靠性呢？這個(gè)環(huán)境是用來(lái)測(cè)試汽車(chē)儀表用的，可是不能保證環(huán)境自身的可靠性，那么測(cè)試的結(jié)果也就沒(méi)有意義了。請(qǐng)高人指點(diǎn)下~??！
2017-09-26 08:07:49
可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前，環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個(gè)項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測(cè)試的研究結(jié)果來(lái)看，失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。位置主要集中在元件角落處
2018-09-06 16:24:30
。在這里就SiC-SBD的可靠性試驗(yàn)進(jìn)行說(shuō)明。這是ROHM的SiC-SBD可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)。首先請(qǐng)看一下具體的項(xiàng)目和條件。對(duì)于進(jìn)行過(guò)半導(dǎo)體的可靠性探討和實(shí)際評(píng)估的人來(lái)說(shuō)，這些標(biāo)準(zhǔn)和條件應(yīng)該都是司空見(jiàn)慣
2018-11-30 11:50:49
費(fèi)舍爾科技有限公司，專(zhuān)注與環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷(xiāo)售，產(chǎn)品有：鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫（交變）濕熱試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外光耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)
2008-09-22 16:46:32
、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中，可靠性工程得到迅速發(fā)展！1965年，美國(guó)頒發(fā)了《系統(tǒng)與設(shè)備
2020-07-03 11:09:11
1952年3月便提出了具有深遠(yuǎn)影響的建議；研究成果首先應(yīng)用于航天、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中
2020-07-03 11:18:02
基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測(cè)試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試方法
2021-03-08 07:55:20
`可靠性試驗(yàn)是為了解、分析、提高、評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的工作的總稱(chēng)。依據(jù)GJB450A《裝備可靠性工作通用要求》分類(lèi)，可靠性試驗(yàn)可以分為環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性研制試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)
2019-07-23 18:29:15
；可靠性測(cè)試記錄。 (2)最大的系統(tǒng)集成最大的系統(tǒng)集成可以最大限度簡(jiǎn)化系統(tǒng)構(gòu)成，有助于減少系統(tǒng)硬件失誤概率。最大的系統(tǒng)集成應(yīng)具備：依靠器件解決的思想；單片機(jī)選擇實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的最大包容；0EM 的支持。 2．
2021-01-11 09:34:49
可靠性設(shè)計(jì)是單片機(jī)應(yīng)甩系統(tǒng)設(shè)計(jì)必不可少的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文從現(xiàn)代電子系統(tǒng)的可靠性出發(fā)，詳細(xì)論述了單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)。提出了芯片選擇、電源設(shè)計(jì)、PCB制作、噪聲失敏控制、程序失控回復(fù)等集合硬件系統(tǒng)
2021-02-05 07:57:48
汽車(chē)行業(yè)發(fā)展迅速，汽車(chē)的設(shè)計(jì)、制造和操控方式在發(fā)生著重大轉(zhuǎn)變。最值得注意的是，與半導(dǎo)體技術(shù)相關(guān)的安全性和可靠性在很大程度上影響著汽車(chē)的安全性。系統(tǒng)集成商面對(duì)的挑戰(zhàn)是構(gòu)建強(qiáng)大的平臺(tái)，并確保該平臺(tái)能夠在
2019-07-25 07:43:04
為了FPGA保證設(shè)計(jì)可靠性, 需要重點(diǎn)關(guān)注哪些方面？
2019-08-20 05:55:13
如何克服ACS測(cè)試系統(tǒng)和SMU的可靠性測(cè)試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
摘 要 本文針對(duì)目前嵌入式軟件設(shè)計(jì)可靠性測(cè)試用例的手段主要依靠手工分析，沿用傳統(tǒng)的軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法進(jìn)行，不能夠滿(mǎn)足可靠性測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本要求的問(wèn)題，設(shè)計(jì)了一套行之有效的可靠性測(cè)試用例自動(dòng)生成
2021-10-27 06:10:28
、生程過(guò)程、生產(chǎn)工藝、選用的材料、質(zhì)量控制及其是否正確應(yīng)用有關(guān)，在這諸多因素中，當(dāng)推結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是首要的。它在產(chǎn)品的固有可靠性中起決定性作用。因此，在研制設(shè)計(jì)的每一階段，或在可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)中，都應(yīng)特別注意
2019-07-10 08:04:30
關(guān)于嵌入式等軟件可靠性、安全性測(cè)試與評(píng)估的資料，希望有幫助。
2019-06-17 16:53:48
。因此，硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上，既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì)，更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2021-01-25 07:13:16
當(dāng)今社會(huì)，市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈，品牌企業(yè)之間競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn)不僅局限在產(chǎn)品的功能與外觀，產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性越來(lái)越受到市場(chǎng)和客戶(hù)的重視。安博檢測(cè)股份近年來(lái)加大對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的投入，配備了各種環(huán)境測(cè)試設(shè)備。通過(guò)
2018-12-04 18:12:47
怎么測(cè)試網(wǎng)口的可靠性?平時(shí)用的時(shí)候，都是看能不能ping通電腦而已，但是怎么具體的網(wǎng)口測(cè)試呢？
2016-05-16 09:35:45
隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升，可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性（Wafer Level Reliability, WLR）技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力，實(shí)現(xiàn)快速
2025-05-07 20:34:21
板階 (BLR) 車(chē)電可靠性驗(yàn)證iST宜特可提供汽車(chē)電子及零部件一站式整合驗(yàn)證服務(wù)。車(chē)用電子測(cè)試不僅著重于產(chǎn)品壽命測(cè)試，更重要的是，將產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念，帶入試驗(yàn)中，例如推拉力測(cè)試、錫球接合
2018-09-06 16:56:38
)，都在考驗(yàn)著汽車(chē)電子產(chǎn)品的可靠性。本文簡(jiǎn)單整理出汽車(chē)電子產(chǎn)品相關(guān)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)條件，以提供給廣大客戶(hù)參考。 目前世界范圍內(nèi)，針對(duì)汽車(chē)電子產(chǎn)品有很多環(huán)境可靠性測(cè)試方面的要求及標(biāo)準(zhǔn)，而常用的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO
2016-02-23 21:22:20
幫幫忙。一般汽車(chē)車(chē)燈的可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求是怎么樣的？像高溫測(cè)試是測(cè)多少度多久的。像前大燈和霧燈，尾燈這類(lèi)的
2014-05-05 23:27:49
試驗(yàn)，電壓暫降測(cè)試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測(cè)試，電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
產(chǎn)品缺陷暴露在設(shè)計(jì)階段，再針對(duì)暴露的缺陷進(jìn)行針對(duì)性改進(jìn)，從而達(dá)到提高產(chǎn)品可靠性的目的。1.HALT試驗(yàn)模型HALT試驗(yàn)稱(chēng)之為高加速壽命篩選，它不是合格與否的測(cè)試，而是一種發(fā)現(xiàn)缺陷的手段，一般在產(chǎn)品
2016-01-18 10:42:33
?？傊h(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)對(duì)于保證手機(jī)的可靠性是非常有效的。3 手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的內(nèi)容 任何一款手機(jī)新品的上市，都需要經(jīng)過(guò)授權(quán)檢驗(yàn)單位的嚴(yán)格測(cè)試。這些測(cè)試內(nèi)容中非常重要的一項(xiàng)就是手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)
2009-11-13 22:31:55
環(huán)境試驗(yàn)中，每一項(xiàng)試驗(yàn)的時(shí)間基本取決于選用的試驗(yàn)及具體的試驗(yàn)程序，只是由于各階段進(jìn)行性能檢測(cè)所需時(shí)間不同而產(chǎn)生一些差別，試驗(yàn)時(shí)間比可靠性試驗(yàn)短得多。可靠性試驗(yàn)時(shí)間取決于需驗(yàn)證的可靠性指標(biāo)值和選用的統(tǒng)計(jì)
2022-01-13 14:03:37
為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)。試驗(yàn)目的通常有如下幾方面：1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況；2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程提供信息
2015-08-04 17:34:26
電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)，不看肯定后悔
2021-05-12 06:11:07
可靠的元器件，淘汰掉有潛在缺陷的產(chǎn)品。從廣義上來(lái)講，在元器件生產(chǎn)過(guò)程中各種工藝質(zhì)量檢驗(yàn)以及半成品、成品的電參數(shù)測(cè)試都是篩選，而我們這里所講的是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于剔除早期失效元器件的可靠性篩選。理想的篩選希望
2016-11-17 22:41:33
`電路可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試 [hide][/hide]`
2011-07-25 09:06:47
特性與產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來(lái)的特性是一致的。對(duì)13種不同應(yīng)力的篩選結(jié)果調(diào)查表明， 溫度循環(huán)是最有效的篩選， 其次是隨機(jī)振動(dòng)。因此， 將溫度試驗(yàn)平臺(tái)與振動(dòng)試驗(yàn)平臺(tái)做為可靠性強(qiáng)化測(cè)試平臺(tái)（圖1）。 維庫(kù)PDF下載：硅壓力傳感器的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn).rar
2018-11-05 15:37:57
我想問(wèn)一下高速電路設(shè)計(jì)，是不是只要做好電源完整性分析和信號(hào)完整性分析，就可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定了。要想達(dá)到高的可靠性，要做好哪些工作?。吭诰W(wǎng)上找了好久，也沒(méi)有找到關(guān)于硬件可靠性的書(shū)籍。有經(jīng)驗(yàn)的望給點(diǎn)提示。
2015-10-23 14:47:17
、壽命試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)五大類(lèi)。 對(duì)于半導(dǎo)體企業(yè)，進(jìn)行可靠性試驗(yàn)是提升產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。在進(jìn)行工業(yè)級(jí)產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證時(shí)，通常選取樣品數(shù)為22?；景雽?dǎo)體將樣本數(shù)按照汽車(chē)級(jí)
2023-02-28 16:59:26
產(chǎn)品可靠性是指，在一定條件下產(chǎn)品無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。線(xiàn)束端子可靠性試驗(yàn)即是評(píng)估端子滿(mǎn)足電氣連接可靠性的能力。本文主要談?wù)劧俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性測(cè)試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義。 端子可靠性試驗(yàn)涉及
2021-01-12 16:24:16
本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC)& MSL試驗(yàn)
2020-05-17 20:50:12
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
剛剛接觸PCBA可靠性，感覺(jué)和IC可靠性差異蠻大，也沒(méi)有找到相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)問(wèn)大佬們?cè)谧鯬CBA可靠性時(shí)是怎么做的，測(cè)試條件是根據(jù)什么設(shè)定？
2023-02-15 10:21:14
車(chē)載電子設(shè)備可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目匯總一、綜述汽車(chē)的控制系統(tǒng)是以高端電子設(shè)備為基礎(chǔ)，因此電子控制設(shè)備的可靠性對(duì)整車(chē)的可靠性起主導(dǎo)作用。一般來(lái)說(shuō)，使用環(huán)境會(huì)影響到電子設(shè)備和單元的耐久性以及操作性能。因此
2022-01-12 08:07:28
可靠性評(píng)價(jià)電子元器件的可靠性評(píng)價(jià)是指對(duì)電子元器件產(chǎn)品、半成品或模擬樣片(各種測(cè)試結(jié)構(gòu)圖形),通過(guò)各種可靠性評(píng)價(jià)方法，如可靠性試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)和快速評(píng)價(jià)技術(shù)等，
2009-08-27 22:59:53
84 片式電容的可靠性試驗(yàn)及失效的基本分析
片式電容的電性能測(cè)試之后，還有一項(xiàng)十分重要的工作就是片式電容的可靠性試驗(yàn)。如客戶(hù)無(wú)特
2009-02-10 12:57:35
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電感可靠性測(cè)試 電感可靠性測(cè)試分為環(huán)境測(cè)試和物理測(cè)試兩種。一般的SMD型電感，貼片功率電感，插件電感等都會(huì)做這樣的測(cè)試。環(huán)
2009-04-10 13:10:275492 產(chǎn)品簡(jiǎn)介動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)（DHTGB/DHTRB） 為開(kāi)放式的動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，支持小批量不同封裝形式的單管與 模塊的DGS/DRB實(shí)驗(yàn)。 動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)（DHTGB/DHTRB
2025-11-13 14:27:58
產(chǎn)品簡(jiǎn)介柜式動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)（DHTGB/DHTRB/DH3TRB）為高性能動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，支持不同封裝形式的單管與模塊 的DGS/DRB/DH3TRB實(shí)驗(yàn)。 柜式動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)
2025-11-13 15:08:28
LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用
本文主要站在LED制造者或使用者的立場(chǎng)來(lái)探討對(duì)應(yīng)不同的使用環(huán)境與場(chǎng)所，較具有效益的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目以及這些試驗(yàn)的
2009-12-11 21:46:471696 從硬件角度出發(fā)，可靠性測(cè)試分為兩類(lèi),以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。
2011-02-28 10:18:032393 可靠性試驗(yàn)指為分析評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的所有試驗(yàn)。廣義地講，任何與產(chǎn)品故障或故障效應(yīng)有關(guān)的試驗(yàn)都可以被認(rèn)為是可靠性試驗(yàn)。在新產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，調(diào)試、發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、改
2011-05-26 17:38:410 硅片級(jí)可靠性（WLR）測(cè)試最早是為了實(shí)現(xiàn)內(nèi)建（BIR）可靠性而提出的一種測(cè)試手段。
2012-03-27 15:53:096038 從硬件角度出發(fā)，可靠性測(cè)試分為兩類(lèi)： 以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。 企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特
2012-06-26 10:22:442371 從硬件角度出發(fā)，可靠性測(cè)試分為兩類(lèi)： 以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。 企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點(diǎn)和對(duì)質(zhì)量的認(rèn)識(shí)所開(kāi)發(fā)的測(cè)試項(xiàng)目
2017-11-30 16:50:013347 針對(duì)某型火箭第三級(jí)發(fā)動(dòng)機(jī)尾噴管姿態(tài)控制的電動(dòng)伺服機(jī)構(gòu)可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)方法開(kāi)展研究，采用Weibull分布模型確定了電動(dòng)伺服系統(tǒng)的可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的試驗(yàn)時(shí)間，同時(shí)在對(duì)電動(dòng)伺服系統(tǒng)任務(wù)階段的環(huán)境應(yīng)力和工作
2018-03-27 10:37:291 本文首先介紹了可靠性測(cè)試的概念與分類(lèi)，其次介紹了壽命測(cè)試屬于可靠性測(cè)試及其作用，最后介紹了有效的壽命測(cè)試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4618251 
、按試驗(yàn)目的可分為可靠性測(cè)定試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)及可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)；4、按產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段可分為研制試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)及驗(yàn)收試驗(yàn)；5、按施加應(yīng)力的強(qiáng)度可分為正常應(yīng)力及強(qiáng)化應(yīng)力試驗(yàn)；6、按試品破壞與否可分為破壞性
2018-06-28 18:38:501298 可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的，可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性
2020-05-13 15:26:152673 關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)之間關(guān)系的緊密性已毋庸置疑，可他們?cè)谘芯磕康?、選取的環(huán)境應(yīng)力數(shù)量、選取環(huán)境應(yīng)力所需值標(biāo)準(zhǔn)、試驗(yàn)類(lèi)型、試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)終止判據(jù)這6點(diǎn)方面上存在著顯著不同。
2021-05-19 14:42:372106 產(chǎn)品可靠性測(cè)試是指產(chǎn)品或試樣材料在模擬某一自然環(huán)境使用條件下在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)所能達(dá)到的規(guī)定功能特性能力的加速試驗(yàn)手段。可靠性高的產(chǎn)品，不僅可為企業(yè)節(jié)約成本、贏得客戶(hù)的信賴(lài)，而且有助于提高企業(yè)的品牌
2021-12-11 17:02:532821 SiC作為半導(dǎo)體材料的歷史不長(zhǎng)，與Si功率元器件相比其實(shí)際使用業(yè)績(jī)還遠(yuǎn)遠(yuǎn)無(wú)法超越，可能是其可靠性水平還未得到充分認(rèn)識(shí)。這是ROHM的SiC-SBD可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
2023-02-08 13:43:18985 
激光芯片的可靠性是一項(xiàng)十分關(guān)鍵的指標(biāo)，無(wú)論是小功率的激光筆還是要求較高的激光通信芯片，都需要進(jìn)行芯片的老化和可靠性的測(cè)試。
2023-02-23 10:41:554095 一般來(lái)說(shuō)為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測(cè)從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況
2023-05-20 09:16:022829 
芯片可靠性測(cè)試主要分為環(huán)境試驗(yàn)和壽命試驗(yàn)兩個(gè)大項(xiàng)，其中環(huán)境試驗(yàn)中包含了機(jī)械試驗(yàn)（振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、離心加速試驗(yàn)、引出線(xiàn)抗拉強(qiáng)度試驗(yàn)和引出線(xiàn)彎曲試驗(yàn)）、引出線(xiàn)易焊性試驗(yàn)、溫度試驗(yàn)（低溫、高溫和溫度交
2022-12-29 16:33:498508 
環(huán)境可靠性試驗(yàn)是一種對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全面評(píng)估的測(cè)試方法，可應(yīng)用于廣泛的行業(yè)和領(lǐng)域。該技術(shù)可以評(píng)估產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性，包括溫度、濕度、震動(dòng)和應(yīng)力等方面。因此，在許多關(guān)鍵領(lǐng)域，如國(guó)防
2023-04-12 11:26:552957 
為溫度85℃，且濕度為85%的條件下，對(duì)試驗(yàn)體進(jìn)行老化測(cè)試，也就是嚴(yán)酷的環(huán)境可靠性試驗(yàn)，比較常用的測(cè)試時(shí)間為1000小時(shí)，主要檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:501680 
拉力試驗(yàn)機(jī)夾具的初始距離、材質(zhì)、規(guī)格、定制、種類(lèi)、廠家等因素都對(duì)測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性具有重要影響。在使用拉力試驗(yàn)機(jī)夾具時(shí)，需要根據(jù)被測(cè)物體的特性和測(cè)試要求，選擇合適的夾具，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-06-27 13:37:291723 
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專(zhuān)注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估，公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:212364 
芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:015259 器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測(cè)試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說(shuō)明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:274532 
國(guó)家電網(wǎng)：在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測(cè)中，首次引入可靠性試驗(yàn)，驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備（例如：電子式互感器）的科研項(xiàng)目中，增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評(píng)估等相關(guān)研究課題。
2023-11-13 16:32:042777 
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
2023-12-08 09:31:461695 
暴露于預(yù)設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中所進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)。熱循環(huán)試驗(yàn)適用于揭示評(píng)估由剪切應(yīng)力所引起的“蠕變-應(yīng)力釋放”疲勞失效機(jī)理和可靠性，在焊點(diǎn)的失效分析和評(píng)價(jià)方面應(yīng)
2025-01-23 15:26:101102 
可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程，通過(guò)模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài)，對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)估。在芯片研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中，可靠性試驗(yàn)不僅是
2025-02-21 14:50:152066 
在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無(wú)論是電子產(chǎn)品、汽車(chē)零部件，還是智能家居設(shè)備，都需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的可靠性測(cè)試，以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運(yùn)行，為用戶(hù)提供可靠的使用體驗(yàn)。那么，可靠性測(cè)試究竟包括哪些內(nèi)容呢？
2025-06-03 10:52:451294 
LED燈具的可靠性試驗(yàn)，與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源，LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場(chǎng)，因此無(wú)法簡(jiǎn)單地沿用傳統(tǒng)燈具的測(cè)試方法。那么，LED燈具需要進(jìn)行哪些可靠性試驗(yàn)呢？標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：LED
2025-06-18 14:48:15801 
電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性試驗(yàn)是指通過(guò)模擬各種環(huán)境條件（如高低溫、濕度、振動(dòng)、沖擊、鹽霧等），對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，以驗(yàn)證其在儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用全過(guò)程中的環(huán)境適應(yīng)能力和使用可靠性。這種試驗(yàn)是產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)，也是電子產(chǎn)品出廠前、出口、認(rèn)證或工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域的常規(guī)要求。
2025-07-24 15:17:331001 
在電子器件制造和應(yīng)用中，靜電放電（ESD）是一個(gè)重要的可靠性問(wèn)題。CDM（帶電器件模型）試驗(yàn)是評(píng)估電子器件在靜電放電環(huán)境下的敏感度和可靠性的重要手段。通過(guò)CDM試驗(yàn)，可以有效識(shí)別器件在制造、運(yùn)輸
2025-08-27 14:59:42869 
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