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標(biāo)簽 > 蝕刻
最早可用來制造銅版、鋅版等印刷凹凸版,也廣泛地被使用于減輕重量(Weight Reduction)儀器鑲板,銘牌及傳統(tǒng)加工法難以加工之薄形工件等的加工;經(jīng)過不斷改良和工藝設(shè)備發(fā)展,亦可以用于航空、機(jī)械、化學(xué)工業(yè)中電子薄片零件精密蝕刻產(chǎn)品的加工,特別在半導(dǎo)體制程上,蝕刻更是不可或缺的技術(shù)。
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不同蝕刻時(shí)間對(duì)多孔硅結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能的影響
硅在歷史上一直是電子產(chǎn)品的主要材料,而光電子領(lǐng)域的工作幾乎完全依賴于GaAs和磷化銦等ⅲ-ⅴ族化合物材料。這種材料系統(tǒng)二分法的主要原因是硅的間接帶隙結(jié)構(gòu)...
利用FFM機(jī)制進(jìn)行的極微細(xì)機(jī)械加工
隨著超精密加工技術(shù)的發(fā)展,在機(jī)械加工中也需要納米級(jí)的加工控制技術(shù),從這個(gè)觀點(diǎn)出發(fā),近年來,利用掃描型探針顯微鏡(SPM)的極微細(xì)加工技術(shù)被廣泛研究1)~...
硅雙通道光纖低溫等離子體蝕刻控制與SiGe表面成分調(diào)制
在過去的幾年中,MOSFET結(jié)構(gòu)從平面結(jié)構(gòu)改變?yōu)轹捫徒Y(jié)構(gòu)(FinFETs ),這改善了短溝道效應(yīng),并導(dǎo)致更高的驅(qū)動(dòng)電流泄漏。然而,隨著柵極長度減小到小于...
在最近的半導(dǎo)體清潔方面,以生物堿為基礎(chǔ)的RCA清潔法包括大量的超純和化學(xué)液消耗量以及清潔時(shí)多余薄膜的損失; 由于環(huán)境問題,對(duì)新的新精液和清潔方法的研究正...
本文研究了用金剛石線鋸切和標(biāo)準(zhǔn)漿料鋸切制成的180微米厚5英寸半寬直拉單晶硅片與蝕刻時(shí)間的關(guān)系,目的是確定FAS晶片損傷蝕刻期間蝕刻速率降低的根本原因,...
WUS提供了更多實(shí)例。圖7和圖8展示了齊平嵌入工藝與傳統(tǒng)mSAP減成法工藝在加工外層或內(nèi)層1盎司或0.5盎司銅箔時(shí)的差異。很多時(shí)候,根據(jù)密度的不同,齊平...
下料磨邊→鉆孔→沉銅加厚→外層圖形→鍍錫、蝕刻退錫→二次鉆孔→檢驗(yàn)→絲印阻焊→鍍金插頭→熱風(fēng)整平→絲印字符→外形加工→測試→檢驗(yàn)
退火后對(duì)結(jié)特性的剝離和清潔對(duì)于實(shí)現(xiàn)預(yù)期和一致的器件性能至關(guān)重要,發(fā)現(xiàn)光致抗蝕劑剝離和清洗會(huì)導(dǎo)致:結(jié)蝕刻、摻雜劑漂白和結(jié)氧化,植入條件可以增強(qiáng)這些效應(yīng),令...
由于其卓越的能量密度和長壽命,鋰離子電池(LIBs)廣泛用于電動(dòng)設(shè)備,如軍用無人機(jī)、電動(dòng)車輛和動(dòng)力輔助服,這些設(shè)備需要高重量或體積能量密度。然而,盡管在...
本研究根據(jù)蝕刻條件的變化,對(duì)蝕刻特性——蝕刻率和蝕刻系數(shù)進(jìn)行了球面分析,并使用速度、液滴大小、沖擊力(PDA)系統(tǒng)分析了噴嘴、噴射壓力、線短距離、工質(zhì)物...
在本研究中,通過對(duì)目標(biāo)區(qū)域的低破壞性掃描和在KOH溶液中的后蝕刻,發(fā)展了一種在石英表面產(chǎn)生三維納米結(jié)構(gòu)的新型納米加工方法。這種納米制造方法的能力通過各種...
隨著納米結(jié)構(gòu)表面和界面在廣泛的科學(xué)和技術(shù)應(yīng)用中變得越來越重要,確定可擴(kuò)展和廉價(jià)的方法來實(shí)現(xiàn)這些變成了一個(gè)關(guān)鍵的挑戰(zhàn)。特別是有序、非密集、表面支撐的金屬納...
傳統(tǒng)的2D視覺技術(shù)已經(jīng)無法滿足高精度的印刷電路板(PCB)外觀檢測。3D成像技術(shù)則以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),輕松地在視野范圍內(nèi)構(gòu)建目標(biāo)物的狀態(tài),無論是斷差還是孔徑...
一種制備PS層的超聲增強(qiáng)化學(xué)蝕刻方法
本文采用超聲增強(qiáng)化學(xué)蝕刻技術(shù)制備了多孔硅層,利用高頻溶液和硝酸技術(shù)在p型取向硅中制備了多孔硅層。超聲檢測發(fā)現(xiàn)p型硅多孔硅層的結(jié)構(gòu),用該方法可以制備質(zhì)量因...
第一原理化學(xué)反應(yīng)流模型的開發(fā)和應(yīng)用
本研究的目的是開發(fā)和應(yīng)用一個(gè)數(shù)值模型來幫助設(shè)計(jì)和操作CDE工具,為此,我們編制了第一個(gè)已知的NF3/02氣體的等離子體動(dòng)力學(xué)模型,通過與實(shí)驗(yàn)蝕刻速率數(shù)據(jù)...
車輪圖案和寬分離的V形槽的硅蝕刻速率測量實(shí)驗(yàn)
我們介紹了在氫氧化鉀溶液中蝕刻的車輪圖案和寬分離的V形槽的硅蝕刻速率測量。數(shù)據(jù)表明,當(dāng)使用貨車輪圖案時(shí),存在反應(yīng)物耗盡效應(yīng),這掩蓋了真實(shí)的表面反應(yīng)速率限...
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