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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>不同蝕刻時(shí)間對(duì)多孔硅結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能的影響

不同蝕刻時(shí)間對(duì)多孔硅結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能的影響

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使用晶片處理技術(shù)在中產(chǎn)生溝槽結(jié)構(gòu)

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多晶蝕刻殘留物的的形成機(jī)理

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2022-05-06 15:49:501922

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2022-05-11 14:49:581342

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2019-06-26 06:11:35

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書籍:《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》文章:納米柱與金屬輔助化學(xué)蝕刻的比較編號(hào):JFSJ-21-015作者:炬豐科技網(wǎng)址:http://www.wetsemi.com/index.html摘要
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2021-04-29 15:11:184

次氯酸鈉對(duì)單晶表面的紋理蝕刻

單晶的各向異性蝕刻器件和微結(jié)構(gòu)加工中經(jīng)常使用的技術(shù)。已經(jīng)制造的三角形和矩形凹槽、棱錐體、薄膜和微孔,它們?cè)谄骷杏泻艽蟮膽?yīng)用。
2021-12-17 15:26:071452

晶圓濕式用于蝕刻浴晶圓蝕刻

)、(TMAH)、NaOH等,但KOH與TMAH相比,平整度更好,并且只對(duì)的 100 表面做出反應(yīng),因此Fig。如1所示,具有54.74的各向異性蝕刻特性,毒性小。使用KOH的各向異性濕式蝕刻在壓力傳感器、加速度計(jì)、光學(xué)傳感器等整體MEMS裝置結(jié)構(gòu)形成等中使用。 實(shí)驗(yàn) KOH濕法蝕刻工藝 工藝
2021-12-23 09:55:351043

氫氟酸溶液中多孔的形成

引言 我們研究了四種在高頻水溶液中的陽極電流-電勢(shì)特性。根據(jù)不同電位陽極氧化的樣品的表面條件,電流-電位曲線上通常有三個(gè)區(qū)域:電流隨電位指數(shù)變化區(qū)域的多孔形成,恒流區(qū)域的的電泳拋光,以及
2021-12-28 16:40:161563

HF溶液陽極氧化形成多孔層的機(jī)理

引言 我們根據(jù)實(shí)驗(yàn),研究了多孔層(PSL)的形成機(jī)理。PSL是由只發(fā)生在孔隙底部的的局部溶解而形成的。在陽極化過程中,PSL孔隙中電解質(zhì)的HF濃度保持恒定,孔隙中的陽極反應(yīng)沿厚度方向均勻進(jìn)行。
2021-12-30 14:20:271142

濕法化學(xué)蝕刻太陽能電池的光電特性

引言 通過在含有H2O2的HF溶液中蝕刻,在兩步工藝中對(duì)商用太陽能電池進(jìn)行紋理化。銀納米粒子作為催化位點(diǎn),有助于蝕刻過程。確定了在表面制備納米孔的蝕刻時(shí)間。利用光譜儀測(cè)量了太陽能電池表面納米結(jié)構(gòu)
2022-01-04 17:15:351141

晶體襯底的表面織構(gòu)和光學(xué)特性的說明

引言 本文介紹了表面紋理對(duì)晶圓光學(xué)和光捕獲特性影響。表面紋理由氫氧化鉀(KOH)和異丙醇(IPA)溶液的各向異性蝕刻來控制。(001)晶晶片的各向異性蝕刻導(dǎo)致晶片表面形成金字塔面。利用輪廓測(cè)量法
2022-01-11 14:41:581824

關(guān)于使用酸性溶液對(duì)晶片進(jìn)行異常各向異性蝕刻研究

介紹 在本文中,我們首次報(bào)道了實(shí)現(xiàn)111和100晶片的晶體蝕刻的酸性溶液。通過使用六氟硅酸(也稱為氟硅酸)和硝酸的混合物,獲得暴露出各種面外111平面的111的晶體蝕刻。本文描述了用于該研究
2022-01-20 16:46:481197

堿性蝕刻中的絕對(duì)蝕刻速率

在 KOH 水溶液中進(jìn)行濕法化學(xué)蝕刻期間, (1 1 1) 的絕對(duì)蝕刻速率已通過光學(xué)干涉測(cè)量法使用掩膜樣品進(jìn)行了研究。蝕刻速率恒定為0.62 ± 0.07 μm/h 且與 60 時(shí) 1–5 M
2022-03-04 15:07:091824

三維MEMS結(jié)構(gòu)的灰階微加工 光刻和深反應(yīng)離子蝕刻

摘要 微機(jī)電系統(tǒng)中任意三維結(jié)構(gòu)的微加工可以用灰度光刻技術(shù)實(shí)現(xiàn)以及干各向異性蝕刻。 在本研究中,我們研究了深反應(yīng)離子蝕刻(DRIE)的使用和蝕刻的裁剪精密制造的選擇性。 對(duì)負(fù)載、O2階躍的引入、晶
2022-03-08 14:42:571476

使用酸性溶液對(duì)晶片進(jìn)行異常各向異性蝕刻

在本文中,我們首次報(bào)道了實(shí)現(xiàn)111和100晶片的晶體蝕刻的酸性溶液。通過使用六氟硅酸(也稱為氟硅酸)和硝酸的混合物,獲得暴露出各種面外111平面的111的晶體蝕刻。本文描述了用于該研究的溶液的化學(xué)組成,隨后是使用電子和光學(xué)顯微鏡獲得的結(jié)果。蝕刻的機(jī)理,雖然沒有完全理解,將在下面的章節(jié)中討論。
2022-03-09 14:35:421074

各向同性和各向異性工藝如何用于改善蝕刻

通過使用各向同性和各向異性工藝,可以高精度地創(chuàng)建由濕法蝕刻產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)。各向同性蝕刻速度更快,但可能會(huì)在掩模下蝕刻以形成圓形。可以更精確地控制各向異性蝕刻,并且可以產(chǎn)生具有精確尺寸的直邊。在每種
2022-03-09 16:48:343460

晶圓濕式用于蝕刻浴晶圓蝕刻

了解形成MEMS制造所需的三維結(jié)構(gòu),需要SILICON的各向異性蝕刻,此時(shí)使用的濕式蝕刻工藝考慮的事項(xiàng)包括蝕刻率、長寬比、成本、環(huán)境污染等[1]。用于各向異性濕式蝕刻。
2022-03-11 13:57:43852

如何利用原子力顯微鏡測(cè)量蝕刻速率

本文提出了一種利用原子力顯微鏡(AFM)測(cè)量蝕刻速率的簡單方法,應(yīng)用表面的天然氧化物層作為掩膜,通過無損摩擦化學(xué)去除去除部分天然氧化物,暴露地下新鮮。因此,可以實(shí)現(xiàn)在氫氧化鉀溶液中對(duì)的選擇性蝕刻,通過原子精密的AFM可以檢測(cè)到蝕刻深度,從而獲得了氫氧化鉀溶液中精確的蝕刻速率。
2022-03-18 15:39:18954

HF/H2O二元溶液中晶片變薄的蝕刻特性

質(zhì)的影響。蝕刻率由深度蝕刻時(shí)間的變化來確定。結(jié)果表明,隨著蝕刻時(shí)間的延長,的厚度減重增加。在高分辨率光學(xué)顯微鏡下,可以觀察到蝕刻的硅片表面的粗糙表面。XRD分析表明,蝕刻的晶體峰強(qiáng)度變?nèi)酰f明在襯底上
2022-03-18 16:43:111211

蝕刻法測(cè)定晶片表面的金屬雜質(zhì)

本研究為了將晶片中設(shè)備激活區(qū)的金屬雜質(zhì)分析為ICP-MS或GE\AS,利用HF和HNQ混酸對(duì)晶片進(jìn)行不同厚度的重復(fù)蝕刻,在晶片內(nèi)表面附近,研究了定量分析特定區(qū)域中金屬雜質(zhì)的方法。
2022-03-21 16:15:07739

局部陽極氧化和化學(xué)蝕刻對(duì)表面的自然光刻

利用作為掩模的陽極多孔氧化鋁的模式轉(zhuǎn)移,制備了具有100nm周期性自有序結(jié)構(gòu)的孔和柱陣列納米結(jié)構(gòu),納米圖案的轉(zhuǎn)移是通過一個(gè)涉及的局部陽極化和隨后的化學(xué)蝕刻的組合過程來實(shí)現(xiàn)的。利用這一方法,可以通過改變蝕刻條件來制造負(fù)圖案和正圖案。
2022-03-23 11:05:54840

詳解單晶的各向異性蝕刻特性

為了形成膜結(jié)構(gòu),單晶硅片已經(jīng)用氫氧化鉀和氫氧化鉀-異丙醇溶液進(jìn)行了各向異性蝕刻,觀察到蝕刻速率強(qiáng)烈依賴于蝕刻劑溫度和濃度,用于蝕刻實(shí)驗(yàn)的掩模圖案在晶片的主平面上傾斜45°。根據(jù)圖案方向和蝕刻劑濃度
2022-03-25 13:26:344201

采用濕蝕刻技術(shù)制備黑

和水熱蝕刻制備黑具有更大的優(yōu)勢(shì)。它為制備黑可見光和近紅外光電子器件提供了一種合適而經(jīng)濟(jì)的方法。本文采用濕式蝕刻法制備了微結(jié)構(gòu),并對(duì)其微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行了表征,并對(duì)其光學(xué)性能進(jìn)行了測(cè)試。
2022-03-29 16:02:591360

MACE工藝制備黑的表面形態(tài)學(xué)和光學(xué)性能研究

本文研究了用兩步金屬輔助化學(xué)蝕刻(MACE)工藝制備的黑(b-Si)的表面形態(tài)學(xué)和光學(xué)性能,研究了銀膜低溫退火和碳硅片蝕刻時(shí)間短的兩步MACE法制備硼吸收材料。該過程包括銀薄膜沉積產(chǎn)生的鎵氮?dú)?/div>
2022-03-29 17:02:351332

一種制備PS層的超聲增強(qiáng)化學(xué)蝕刻方法

本文采用超聲增強(qiáng)化學(xué)蝕刻技術(shù)制備了多孔層,利用高頻溶液和硝酸技術(shù)在p型取向中制備了多孔層。超聲檢測(cè)發(fā)現(xiàn)p型多孔層的結(jié)構(gòu),用該方法可以制備質(zhì)量因子的多孔微腔,超聲波蝕刻所導(dǎo)致的質(zhì)量的提高可
2022-04-06 13:32:13880

用于硅片減薄的濕法蝕刻工藝控制

,并添加化學(xué)物質(zhì)來調(diào)整粘度和單晶圓旋轉(zhuǎn)加工的表面潤濕性。 當(dāng)蝕刻并并入蝕刻溶液時(shí),蝕刻速率將隨時(shí)間而降低。 這種變化已經(jīng)建模。 這些模型可以延長時(shí)間,補(bǔ)充化學(xué)物質(zhì),或者兩者兼而有之。
2022-04-07 14:46:331278

晶圓蝕刻過程中的流程和化學(xué)反應(yīng)

引言 晶圓作為半導(dǎo)體制造的基礎(chǔ)材料,是極其重要的,將作為鑄錠成長的硅單晶加工成晶圓階段的切斷、研磨、研磨中,晶圓表面會(huì)產(chǎn)生加工變質(zhì)層。為了去除該加工變質(zhì)層,進(jìn)行化學(xué)蝕刻,在晶片的制造工序中,使
2022-04-08 17:02:102777

單晶晶片的超聲輔助化學(xué)蝕刻

用氟化氫-氯化氫-氯氣混合物進(jìn)行各向異性酸性蝕刻是一種有效的方法 單晶晶片紋理化的替代方法 在晶片表面形成倒金字塔結(jié)構(gòu)[1,2]形貌取決于以下成分 蝕刻混合物[3]在HF-HCl[1]Cl2
2022-04-12 14:10:22717

晶片的蝕刻預(yù)處理方法包括哪些

晶片的蝕刻預(yù)處理方法包括:對(duì)角度聚合的晶片進(jìn)行最終聚合處理,對(duì)上述最終聚合的晶片進(jìn)行超聲波清洗后用去離子水沖洗,對(duì)上述清洗和沖洗的晶片進(jìn)行SC-1清洗后用去離子水沖洗,對(duì)上述清洗和沖洗的晶片進(jìn)行佛山清洗后用去離子水沖洗的步驟,對(duì)所有種類的晶片進(jìn)行蝕刻預(yù)處理,特別是P(111)。
2022-04-13 13:35:461415

一種制備PS層的超聲增強(qiáng)化學(xué)蝕刻方法

本文采用超聲增強(qiáng)化學(xué)蝕刻技術(shù)制備了多孔層,利用高頻溶液和硝酸技術(shù)在p型取向中制備了多孔層。超聲檢測(cè)發(fā)現(xiàn)p型多孔層的結(jié)構(gòu),用該方法可以制備質(zhì)量因子的多孔微腔,超聲波蝕刻所導(dǎo)致的質(zhì)量的提高可
2022-04-15 10:18:45764

單晶硅片與蝕刻時(shí)間的關(guān)系研究

本文研究了用金剛石線鋸切和標(biāo)準(zhǔn)漿料鋸切制成的180微米厚5英寸半寬直拉單晶硅片與蝕刻時(shí)間的關(guān)系,目的是確定FAS晶片損傷蝕刻期間蝕刻速率降低的根本原因,無論是與表面結(jié)構(gòu)相關(guān),缺陷相關(guān),由于表面存在的氧化層,還是由于有機(jī)殘差。
2022-04-18 16:36:05913

通過濕法化學(xué)刻蝕制備多孔氧化鋅薄膜

本文用濕化學(xué)腐蝕法制備多孔氧化鋅的研究。通過射頻磁控濺射在擇優(yōu)取向的p型上沉積ZnO薄膜。在本工作中使用的蝕刻劑是0.1%和1%硝酸(HNO)溶液,ZnO在不同時(shí)間蝕刻,并通過X射線衍射(XRD
2022-04-24 14:58:201931

利用蝕刻法消除晶片表面金屬雜質(zhì)?

為了將晶片中設(shè)備激活區(qū)的金屬雜質(zhì)分析為ICP-MS或GE\AS,利用HF和HNQ混酸對(duì)晶片進(jìn)行不同厚度的重復(fù)蝕刻,在晶片內(nèi)表面附近,研究了定量分析特定區(qū)域中消除金屬雜質(zhì)的方法。
2022-04-24 14:59:231124

晶片的化學(xué)蝕刻工藝研究

拋光的硅片是通過各種機(jī)械和化學(xué)工藝制備的。首先,通過切片將單晶錠切成圓盤(晶片),然后進(jìn)行稱為研磨的平整過程,該過程包括使用研磨漿擦洗晶片。 在先前的成形過程中引起的機(jī)械損傷通過蝕刻是本文的重點(diǎn)。在準(zhǔn)備用于器件制造之前,蝕刻之后是各種單元操作,例如拋光和清潔。
2022-04-28 16:32:371285

蝕刻作為晶片化學(xué)鍍前的表面預(yù)處理的效果

金屬涂層,如銅膜,可以很容易地沉積在半導(dǎo)體材料上,如晶片,而無需使無電鍍工藝進(jìn)行預(yù)先的表面預(yù)處理。然而,銅膜的粘附性可能非常弱,并且容易剝離。在本研究中,研究了在氫氟酸溶液中蝕刻作為晶片化學(xué)鍍前
2022-04-29 15:09:061103

單晶的各向異性蝕刻特性說明

為了形成膜結(jié)構(gòu),單晶硅片已經(jīng)用氫氧化鉀和氫氧化鉀-異丙醇溶液進(jìn)行了各向異性蝕刻,觀察到蝕刻速率強(qiáng)烈依賴于蝕刻劑的溫度和濃度,用于蝕刻實(shí)驗(yàn)的掩模圖案在晶片的主平面上傾斜45°。根據(jù)圖案方向和蝕刻
2022-05-05 16:37:364132

一種用于蝕刻的現(xiàn)象學(xué)結(jié)構(gòu)區(qū)域模型

在本文中,結(jié)合了現(xiàn)有的經(jīng)驗(yàn)和觀察到的多晶氧化鋅腐蝕模型,該模型可以定性地描述濺射條件、材料特性和蝕刻條件的影響。幾項(xiàng)研究調(diào)查了濺射參數(shù)和蝕刻行為之間的關(guān)系,并提出了一種用于蝕刻的現(xiàn)象學(xué)結(jié)構(gòu)區(qū)域模型
2022-05-09 14:27:58778

多孔ZnO薄膜表面形貌和粗糙度的研究

本文介紹了我們?nèi)A林科納研究了蝕刻時(shí)間和氧化劑對(duì)用氫氧化銨(銨根OH)形成的多孔氧化鋅(氧化鋅)薄膜的表面形貌和表面粗糙度的影響。在本工作中,射頻磁控管濺射的ZnO薄膜在氫氧化銨(NH4OH)溶液中腐蝕,全面研究了刻蝕時(shí)間和添加H2O2溶液對(duì)多孔ZnO薄膜表面形貌和粗糙度的影響。
2022-05-09 15:19:341328

超聲波頻率對(duì)化學(xué)蝕刻工藝有什么影響

微腔。由超聲波蝕刻引起的質(zhì)量提高可歸因于氫氣泡和其它蝕刻化學(xué)物質(zhì)從多孔柱表面逃逸的速率增加。該效應(yīng)歸因于自由空穴載流子濃度的有效變化。超聲波已導(dǎo)致表明可能在鍵合結(jié)構(gòu)的變化,并增加氧化。此外,在超聲波處理和微觀結(jié)構(gòu)之間建
2022-05-10 15:43:251702

結(jié)構(gòu)的深且窄的各向異性蝕刻研究

在使用低溫卡盤的低壓高密度等離子體反應(yīng)器中研究了結(jié)構(gòu)的深且窄的各向異性蝕刻。我們?nèi)A林科納以前已經(jīng)證明了這種技術(shù)在這種結(jié)構(gòu)上的可行性。已經(jīng)研究了蝕刻速率和輪廓的改進(jìn),并且新的結(jié)果顯示,在5 μm
2022-05-11 15:46:191455

TMAH溶液對(duì)得選擇性刻蝕研究

我們?nèi)A林科納研究了TMAH溶液中摩擦誘導(dǎo)選擇性蝕刻性能蝕刻溫度、刻蝕時(shí)間和刮刻載荷的影響,通過對(duì)比試驗(yàn),評(píng)價(jià)了摩擦誘導(dǎo)的選擇性蝕刻的機(jī)理,各種表面圖案的制造被證明與控制尖端痕跡劃傷。 蝕刻時(shí)間
2022-05-20 16:37:453558

M111N蝕刻速率,在堿性溶液中蝕刻

認(rèn)為是一個(gè)速度源,這是我們提出的一個(gè)數(shù)學(xué)概念,也適用于位錯(cuò)和晶界,速度源的活動(dòng)取決于相關(guān)的M111N平面與掩模之間的夾角,因此在微觀機(jī)械結(jié)構(gòu)蝕刻的薄壁相對(duì)的M111N側(cè)可以有不同的值。 在圖1a中,示出了S 100T單晶爐和部分覆蓋它的惰性掩
2022-05-20 17:12:591881

電化學(xué)陽極氧化納米晶多孔層的合成和表征研究

發(fā)射的內(nèi)壁中捕獲的發(fā)光表面物質(zhì)的存在,第三個(gè)是由于表面限制的分子發(fā)射體即氧烷的存在。表面鈍化的作用對(duì)于確定多孔層的輻射效率非常重要。多孔結(jié)構(gòu)具有良好的機(jī)械強(qiáng)度、化學(xué)穩(wěn)定性和與現(xiàn)有技術(shù)的兼容性,因此
2022-05-25 13:59:391076

一種海綿狀形式的多孔柔性有機(jī)復(fù)合材料

基于以上問題,美國普渡大學(xué)西拉法葉分校機(jī)械工程學(xué)院(School of Mechanical Engineering,Purdue University,West Lafayette)的研究人員制備了一種海綿狀形式的多孔柔性有機(jī)復(fù)合材料,具有優(yōu)異的流變性能,可實(shí)現(xiàn)微量級(jí)DIW。
2022-05-27 09:50:442429

蝕刻速率的影響因素及解決方法

通常在蝕刻過程之后通過將總厚度變化除以蝕刻時(shí)間或者通過對(duì)不同的蝕刻時(shí)間進(jìn)行幾次厚度測(cè)量并使用斜率的“最佳擬合”來測(cè)量,當(dāng)懷疑蝕刻速率可能不隨時(shí)間呈線性或蝕刻開始可能有延遲時(shí),這樣做有時(shí)可以實(shí)時(shí)測(cè)量蝕刻速率。
2022-05-27 15:12:135836

多孔的沖洗和干燥的相關(guān)研究

引言 p+型多孔(PS)的顯著單晶性質(zhì)被用于利用高分辨率X射線衍射研究晶體從濕態(tài)轉(zhuǎn)移到干態(tài)的效應(yīng):這些效應(yīng)被多孔的大比表面積所強(qiáng)調(diào)。從氫氟酸溶液通過水中的沖洗階段轉(zhuǎn)移到空氣中具有重要
2022-06-06 16:28:521449

KOH蝕刻:凸角蝕刻特性研究

引用 本文介紹了我們?nèi)A林科納半導(dǎo)體研究了取向在氫氧化鉀水溶液中的各向異性腐蝕特性和凸角底切機(jī)理。首先,確定控制底切的蝕刻前沿的晶面,并測(cè)量它們的蝕刻速率。然后,基于測(cè)量數(shù)據(jù),檢驗(yàn)了凸角補(bǔ)償技術(shù)
2022-06-10 17:03:482252

濕法蝕刻與干法蝕刻有什么不同

的逐層秘密。隨著制造工藝的變化和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的變化,這些技術(shù)需要在時(shí)間和程序上不斷調(diào)整。雖然有許多工具有助于這些分析,如RIE(反應(yīng)離子蝕刻-一種干法蝕刻技術(shù))、離子銑削和微切割,但鎢的濕法化學(xué)蝕刻有時(shí)比RIE技術(shù)更具重現(xiàn)性。
2022-06-20 16:38:207526

晶片的酸基蝕刻:傳質(zhì)和動(dòng)力學(xué)效應(yīng)

拋光晶片是通過各種機(jī)械和化學(xué)工藝制備的。首先,硅單晶錠被切成圓盤(晶片),然后是一個(gè)稱為拍打的扁平過程,包括使用磨料清洗晶片。通過蝕刻消除了以往成形過程中引起的機(jī)械損傷,蝕刻之后是各種單元操作,如拋光和清洗之前,它已經(jīng)準(zhǔn)備好為設(shè)備制造。
2023-05-16 10:03:001595

高速濕式各向異性蝕刻技術(shù)在批量微加工中的應(yīng)用

蝕刻是微結(jié)構(gòu)制造中采用的主要工藝之一。它分為兩類:濕法蝕刻和干法蝕刻,濕法蝕刻進(jìn)一步細(xì)分為兩部分,即各向異性和各向同性蝕刻。濕法各向異性蝕刻廣泛用于制造微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)的體微加工和太陽能電池應(yīng)用的表面紋理化。
2023-05-18 09:13:122602

在氫氧化鈉和四甲基氫氧化銨中的溫度依賴性蝕刻

過去利用堿氫氧化物水溶液研究了的取向依賴蝕刻,這是制造中微結(jié)構(gòu)的一種非常有用的技術(shù)。以10M氫氧化鉀(KOH)為蝕刻劑,研究了單晶球和晶片的各向異性蝕刻過程,測(cè)量了沿多個(gè)矢量方向的蝕刻速率,用單晶球發(fā)現(xiàn)了最慢的蝕刻面。英思特利用這些數(shù)據(jù),提出了一種預(yù)測(cè)不同方向表面的傾角的方法
2023-05-29 09:42:403202

淺談蝕刻工藝開發(fā)的三個(gè)階段

納米片工藝流程中最關(guān)鍵的蝕刻步驟包括虛擬柵極蝕刻、各向異性柱蝕刻、各向同性間隔蝕刻和通道釋放步驟。通過和 SiGe 交替層的剖面蝕刻是各向異性的,并使用氟化化學(xué)。優(yōu)化內(nèi)部間隔蝕刻(壓痕)和通道釋放步驟,以極低的損失去除 SiGe。
2023-05-30 15:14:112991

使用各向同性濕蝕刻和低損耗線波導(dǎo)制造與蝕刻材料對(duì)非晶進(jìn)行納米級(jí)厚度控制

我們?nèi)A林科納通過光學(xué)反射光譜半實(shí)時(shí)地原位監(jiān)測(cè)用有機(jī)堿性溶液的濕法蝕刻,以實(shí)現(xiàn)用于線波導(dǎo)的氫化非晶(a-Si:H)膜的高分辨率厚度控制。由a-Si:H的本征各向同性結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的各向同性蝕刻導(dǎo)致表面
2023-08-22 16:06:561159

Si/SiGe多層堆疊的干法蝕刻

引言 近年來,/鍺異質(zhì)結(jié)構(gòu)已成為新型電子和光電器件的熱門課題。因此,人們對(duì)/鍺體系的結(jié)構(gòu)制造和輸運(yùn)研究有相當(dāng)大的興趣。在定義Si/SiGe中的不同器件時(shí),反應(yīng)離子刻蝕法(RIE)在圖案轉(zhuǎn)移
2023-12-28 10:39:511694

半導(dǎo)體資料丨氧化鋅、晶體/鈣鈦礦、表面化學(xué)蝕刻的 MOCVD GaN

)濃度,蝕刻時(shí)間為30秒和60秒。經(jīng)過一定量的蝕刻后,光學(xué)帶隙降低,這表明薄膜的結(jié)晶度質(zhì)量有所提高。利用OPAL 2模擬器研究了不同ZnO厚度對(duì)樣品光學(xué)性能的影響。與其他不同厚度的ZnO層相比,OPAL 2模擬表明,400nm的ZnO層在UV波長范圍內(nèi)具有最低的透射率。 晶體/黑
2024-02-02 17:56:451302

影響pcb蝕刻性能的五大因素有哪些?

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講影響pcb蝕刻性能的因素有哪些方面?影響pcb蝕刻性能的因素。PCB蝕刻是PCB制造過程中的關(guān)鍵步驟之一,影響蝕刻性能的因素有很多。深圳領(lǐng)卓電子是專業(yè)從事PCB
2024-03-28 09:37:021902

鋰離子電池多孔電極的電化學(xué)性能研究

高端光學(xué)精密測(cè)量技術(shù),深耕鋰電、半導(dǎo)體等領(lǐng)域的材料性能評(píng)估,本文光子灣將聚焦鋰離子電池多孔電極的電化學(xué)性能機(jī)制,解析結(jié)構(gòu)參數(shù)與性能的關(guān)聯(lián)規(guī)律,為高性能電極設(shè)計(jì)提供
2025-08-05 17:47:39961

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